Finder 930 系列 全自動化拉曼光譜分析系統(tǒng) 參考價：面議
全新一代的Finder 930 拉曼測量系統(tǒng)，旨在打造一臺屬于國人自己的高性能、高穩(wěn)定性、高性價比的國產(chǎn)激光共聚焦拉曼光譜儀。該產(chǎn)品在材料、地質(zhì)、化學(xué)、醫(yī)藥、食...
顯微分光膜厚儀 參考價：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目：?絕.對反射率測量?多層膜解析?光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
便攜式拉曼光譜儀 參考價：面議
AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨立的研究儀器，旨在進(jìn)行光譜測量，其能力達(dá)到*端系統(tǒng)的水平。 RU120采用剛性無活動部件設(shè)計，無需調(diào)整，具有...
ODMR四族半導(dǎo)體光探測磁共振譜儀 參考價：面議
該系統(tǒng)利用 double-pass 聲光調(diào)制技術(shù)實現(xiàn)激光束的高開關(guān)比，連續(xù)激光依次通過偏振光分束器、聲光調(diào)制器、四分之一波片，光束正入射在反射鏡后沿原路返回，第...
alpha300 R顯微拉曼成像光譜儀 參考價：面議
一直以來，WITec alpha300 R 拉曼顯微系統(tǒng)以其世界前沿的成像技術(shù)倍受認(rèn)可，靈活、快速、高靈敏度、高性能等特性，使其成為共聚焦拉曼成像市場的帶頭人。...
RTS2多功能激光共聚焦顯微拉曼光譜儀 參考價：面議
RTS2 多功能激光共聚焦顯微拉曼光譜儀，基于新一代顯微共焦技術(shù)，具有良好擴(kuò)展性，可根據(jù)需求拓展為以拉曼為主要功能的顯微光譜工作站，是您科學(xué)研究的優(yōu)質(zhì)選擇！
OmniFluo-FLIM 系列顯微熒光壽命成像系統(tǒng) 參考價：面議
OmniFluo-FLIM系列顯微熒光壽命成像系統(tǒng)由科研級正置顯微鏡，配合多波長光路轉(zhuǎn)換機(jī)構(gòu)，實現(xiàn)一套系統(tǒng)多波長激發(fā)的靈活應(yīng)用，適應(yīng)不同樣品測試需求。高精度平移...
OmniFluo900系列穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀 參考價：面議
OmniFluo900系列熒光光譜儀擁有穩(wěn)態(tài)熒光和瞬態(tài)熒光光譜儀兩大系列產(chǎn)品。本系統(tǒng)以高性能Omni-λ 系列單色/光譜儀、高亮度復(fù)色光源及多波長單色光源、高靈...
高速相位差測量裝置 RE-200 參考價：面議
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)（相當(dāng)于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理）● 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高●...
高速LED光學(xué)特性儀 LE series 參考價：面議
●與產(chǎn)線的控制信號同步●通過光纖的自由的測試系統(tǒng)●實現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400）●同以往的產(chǎn)品相比，測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機(jī)型
高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng) QE-5000 參考價：面議
可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應(yīng)用等的水性溶劑中測量。
高感度分光輻射亮度計 HS-1000 參考價：面議
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵），0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量，對應(yīng)CIE推薦的寬波長范圍...
量子效率測量系統(tǒng) QE-2100 參考價：面議
測量精度高可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）可去除再激勵熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系統(tǒng)
膜厚量測儀 FE-300 參考價：面議
薄膜到厚膜的測量范圍UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學(xué)薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能無復(fù)雜設(shè)定，操...
膜厚測量系統(tǒng) FE-3700/5700 參考價：面議
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。
線掃描膜厚儀（離線型） 參考價：面議
●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實現(xiàn)高精度測量（已取得專zhuan利）●實現(xiàn)高速測量...
線掃描膜厚儀（在線型） 參考價：面議
●采用線掃描方式檢測整面薄膜●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實現(xiàn)高精度測量（已獲取專zhuan利）●實現(xiàn)高速測量●不受偏差影響●可...
紫外分光配光測量系統(tǒng) 參考價：面議
●通過分光光度分布對紫外光進(jìn)行高精度測量●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開度、光束光通量●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)...
紫外分光輻射照度測量系統(tǒng) New 參考價：面議
●該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果?！窀采w從紫外線到可見光的寬波長范圍●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器...
紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng) 參考價：面議
●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍●具有紫外線自吸收校正的高精度測量●配備溫度控制單元，可從-110°C進(jìn)行溫度控制●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●電源、溫控單...
相位差測量裝置 RETS-100nx New 參考價：面議
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series 參考價：面議
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
橢偏儀 FE-5000/5000S 參考價：面議
●可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù)●可分析納米級多層薄膜的厚度●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜●通過可變...
總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series 參考價：面議
●可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測量●測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn)●采用新的探測器，可以進(jìn)行廣動態(tài)范圍的測量●測量部分的尺寸（積...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
6