飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征 參考價(jià):面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜-材料表征飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)??梢詮V泛應(yīng)用于物理,化學(xué),微電子,生物,制藥,空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-...大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜-材料表征 參考價(jià):面議
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜-材料表征1、大氣環(huán)境下使用2、功能:光電子發(fā)射光譜+開爾文探針3、測試能級:費(fèi)米能級,導(dǎo)帶底能量,價(jià)帶頂能量,HOMO-LUMO,禁帶寬...俄歇電子能譜及電子衍射分析系統(tǒng)-材料表征 參考價(jià):面議
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統(tǒng)-材料表征俄歇電子能譜及低能電子衍射分析系統(tǒng)電子槍:型號 :帶可調(diào)焦距和束斑直徑的雙靜電透鏡束流電壓:0-3KV束流電流:大50u...表面光電壓譜系統(tǒng)-材料表征 參考價(jià):面議
表面光電壓譜系統(tǒng)-材料表征表面光電壓譜系統(tǒng)150瓦直流可控光強(qiáng)的石英鹵素?zé)艨梢赃_(dá)到開路電位來評估卷對卷硅太陽能電池的質(zhì)量,全數(shù)字化控制所有參數(shù),包括光照強(qiáng)度和波...KP Technology掃描開爾文探針-材料表征 參考價(jià):面議
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子...超高真空開爾文探針-材料表征 參考價(jià):面議
超高真空開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢,氣氛可控開爾文探針-材料表征 參考價(jià):面議
氣氛可控開爾文探針-材料表征氣氛可控開爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案,50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至10...深能級瞬態(tài)譜儀-半導(dǎo)體表征 參考價(jià):面議
深能級瞬態(tài)譜儀-半導(dǎo)體表征半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段。根據(jù)半導(dǎo)體P-N 結(jié)、金-半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容(△C~t)...單點(diǎn)開爾文探針-材料表征 參考價(jià):面議
單點(diǎn)開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測試系統(tǒng)。皮可安培計(jì)-材料表征 參考價(jià):面議
皮可安培計(jì)-材料表征技術(shù)參數(shù):接口輸入: BNC; 模擬輸出: Banana jacks偏壓選項(xiàng):無偏壓/ 內(nèi)置偏壓 (± 90 V DC)/ 外置偏壓 (BN...飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜2-材料表征 參考價(jià):面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜2-材料表征飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種靈敏的表面分析技術(shù),可以廣泛應(yīng)用于物理,化學(xué),微電子,生物,制藥,空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-S...開爾文探針系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征 參考價(jià):面議
開爾文探針系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征開爾文探針系統(tǒng)材料表面的功函數(shù)通常由上層的1-3層原子或分子決定,所以開爾文探針是一種較靈敏的表面分析技術(shù)。皮可安培計(jì)(USB接口)-材料表征 參考價(jià):面議
皮可安培計(jì)(USB接口)-材料表征技術(shù)參數(shù):接口輸入: BNC; 模擬輸出偏壓選項(xiàng):無偏壓/ 內(nèi)置偏壓 (± 90 V DC)/ 外置偏壓 (BNC)俄歇電子能譜儀(在線表面分析)-材料表征 參考價(jià):面議
俄歇電子能譜儀(在線表面分析)-材料表征The microCMA is a compact (2.75“ CF mount) cylindrical mirro...深能級瞬態(tài)譜儀2-半導(dǎo)體表征 參考價(jià):面議
深能級瞬態(tài)譜儀2-半導(dǎo)體表征深能級瞬態(tài)譜儀是半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段!測試功能:電容模式、定電容模式、電流模式、(雙關(guān)...開爾文探針掃描系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征 參考價(jià):面議
開爾文探針掃描系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征開爾文探針掃描系統(tǒng)是一種非接觸無損震蕩電容裝置,用于測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)(Work Function)或半導(dǎo)體、絕緣表面的表面勢(...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)