俄歇電子能譜及低能電子衍射分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
俄歇電子能譜及低能電子衍射分析系統(tǒng)，又稱俄歇電子能譜AES及低能電子衍射LEED樣品表面深度分析系統(tǒng)。
高通量光譜成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高通量光譜成像系統(tǒng)：高靈敏度 sCMOS 成像傳感器能夠?qū)Φ挽`敏度樣品進(jìn)行高速圖像采集，高分辨率光譜能夠以亞 1 nm 的分辨率采集大約 500 nm 波段。
四點(diǎn)探針 參考價(jià)：面議
控制器是專門為四點(diǎn)探針測(cè)量而設(shè)計(jì)的一種專用電子儀器。它具有精度高、范圍廣和許多簡(jiǎn)化四點(diǎn)探測(cè)測(cè)量的特點(diǎn)。
氣氛可控開爾文探針 參考價(jià)：面議
氣氛可控開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而...
單點(diǎn)開爾文探針 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。
薄膜電阻及厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
薄膜電阻及厚度測(cè)試儀采用渦流檢測(cè)技術(shù)，可按照需求配置單個(gè)或多個(gè)針對(duì)不同樣品的高敏感探頭進(jìn)行測(cè)量，并通過顯示模塊輸出。檢測(cè)最終輸出結(jié)果可顯示為薄膜電阻（Ohms/...
表面光電壓譜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
表面光電壓譜系統(tǒng)為深入研究光敏感材料（例如有機(jī)半導(dǎo)體，太陽能電池或者光敏染料）提供一種一體化解決方案。
超高真空開爾文探針 參考價(jià)：面議
超高真空開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而...
臺(tái)式拉曼光譜分析儀 參考價(jià)：面議
臺(tái)式拉曼光譜分析儀，集成了所需的關(guān)鍵元件，使所有技能水平的研究人員都能以易于操作和較好的靈敏度利用拉曼的力量。
多功能拉曼系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
多功能拉曼系統(tǒng)，內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)燈和自動(dòng)校準(zhǔn)算法可確保保留初始測(cè)量設(shè)置。 測(cè)量結(jié)果的高再現(xiàn)性由雙頭旋轉(zhuǎn)編碼器保證，誤差小于0.003度，易于更換的光柵，內(nèi)置硅樣品和引導(dǎo)...
高性能霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高性能霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)，采用納米技術(shù)方法開發(fā)的材料用于芯片技術(shù)的發(fā)展、太陽能電池的開發(fā)、材料科學(xué)的發(fā)展、空間技術(shù)、國防工業(yè)的發(fā)展。
緊湊型霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
緊湊型霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)具有集成的硬件和軟件系統(tǒng)，旨在測(cè)量和分析樣品的電子特性，是霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)的便攜版本，在全球范圍內(nèi)使用。
振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì) 參考價(jià)：面議
NMI-VSM 振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)結(jié)合了高靈敏度 （5e-7 emu）、出色的可重復(fù)性和簡(jiǎn)單操作，具有符合人體工程學(xué)的設(shè)計(jì)和軟件，便于研究人員使用。
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜 參考價(jià)：面議
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜，使用可調(diào)波長的深紫外光源，能量輸出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下數(shù)據(jù)。
掃描開爾文探針 參考價(jià)：面議
掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾...
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀 參考價(jià)：面議
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀應(yīng)用領(lǐng)域 :檢測(cè)Si、ZnO、GaN等半導(dǎo)體材料中微量雜質(zhì)、缺陷的深能級(jí)及界面態(tài)。
半自動(dòng)劃片機(jī)/切片機(jī)（6英寸）-半導(dǎo)體材料 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)劃片機(jī)/切片機(jī)（6英寸）-半導(dǎo)體材料適用于 6 英寸晶圓– 6 英寸硅晶圓– 緊湊尺寸的占地面積（寬 x 深 = 590 x 880）– 多處安裝劃片可劃...
半自動(dòng)劃片機(jī)（8英寸，12英寸）-半導(dǎo)體材料 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)劃片機(jī)（8英寸，12英寸）-半導(dǎo)體材料– 最大 16 英寸– 重復(fù)精度（Y 軸） ： 0.001– 可選 3 英寸刀片、BBD（刀片斷裂檢測(cè)儀）、NCS（...
半自動(dòng)切片機(jī)（16英寸）-半導(dǎo)體材料 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)切片機(jī)（16英寸）-半導(dǎo)體材料– 最大 16 英寸 （300mm x 300mm）– 真空卡盤：300mm x 300mm 方形
全自動(dòng)劃片機(jī)/切片機(jī)（12英寸）-半導(dǎo)體材料 參考價(jià)：面議
全自動(dòng)劃片機(jī)/切片機(jī)（12英寸）-半導(dǎo)體材料– 最大 12 英寸硅晶圓– 真空吸盤：6~12英寸可切割材料：硅晶圓、QFN、陶瓷、印刷電路板、石英、LED、移動(dòng)...
校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：100000
校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品-半導(dǎo)體表征污染晶圓標(biāo)準(zhǔn)品、校準(zhǔn)晶圓標(biāo)準(zhǔn)品和二氧化硅顆粒晶圓標(biāo)準(zhǔn)品使用顆粒沉積系統(tǒng)生產(chǎn)，該系統(tǒng)將首先使用差分遷移率分析儀（DMA）分析PSL尺寸峰...
表面光電壓譜--半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
表面光電壓譜--半導(dǎo)體表征表面光電壓譜進(jìn)行專業(yè)研究時(shí)，SPV010或者SPV020表面光電壓譜系統(tǒng)作為開爾文探針系統(tǒng)的升級(jí)配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光...
英國KP開爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征 參考價(jià)：面議
英國KP開爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征英國KP開爾文探針掃描是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測(cè)量導(dǎo)體材料的功函數(shù)（Work Function）或半導(dǎo)體、絕緣表面的...
界面力學(xué)分析儀-材料表征 參考價(jià)：面議
界面力學(xué)分析儀-材料表征界面力學(xué)分析儀可以用來直接測(cè)量表面（諸如：無機(jī)物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態(tài)力和動(dòng)態(tài)力，并在分子級(jí)領(lǐng)域內(nèi)研究界面...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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