NKT-7010干法在線粒度儀 參考價：面議
NKT-7010干法在線粒度儀，可在工業(yè)現(xiàn)場實現(xiàn)24小時實時在線測試，適用于生產(chǎn)過程控制和成品質量控制，確保每批次產(chǎn)品的粒度分布符合標準要求。
PW-spray噴霧激光粒度儀 參考價：面議
PW-spray噴霧激光粒度儀，廣泛應用于小型霧化裝置、醫(yī)療霧化器、霧化藥品、各種氣霧劑、噴霧劑、氣溶膠等小型噴霧設備的霧商檢測，對優(yōu)化噴嘴設計和霧化條件、評價...
PW180-C噴霧激光粒度儀 參考價：面議
PW180-C噴霧激光粒度儀專門用于中大型噴霧設備霧滴粒度分布測試的工業(yè)級噴霧粒度儀，針對中大型噴霧設備噴出的霧場和粒度分布寬廣的特點，專門設計了測試區(qū)域可調的...
PW180-B噴霧激光粒度儀 參考價：面議
PW180-B噴霧激光粒度儀專門用于中大型噴霧設備霧滴粒度分布測試的工業(yè)級噴霧粒度儀，針對中大型噴霧設備噴出的霧場和粒度分布寬廣的特點，專門設計了測試區(qū)域可調的...
NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀 參考價：面議
NKT-N9納米粒度及Zeta電位分析儀，廣泛應用于新材料、制藥、生物工程、生命科學、化工、涂裝、食品安全等各領域中有機或無機納米乳液、粉末、高分子聚合物、膠束...
NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀 參考價：面議
NKT-N9H納米粒度及Zeta電位分析儀，結合數(shù)學方法得到顆粒的擴散系數(shù)，最后根據(jù) Stokes-Einstein方程計算出被測樣品的粒度及分布。
NKT6100-B干濕一體激光粒度儀 參考價：面議
NKT6100-B干濕一體激光粒度儀，干濕法分散系統(tǒng)采用管道無殘留與直噴式進樣設計，有效避免大顆粒沉積，實現(xiàn)測試后樣品在管道內零殘留。該設計不僅保障了不同樣品測...
NKT6200-B干濕一體激光粒度儀 參考價：面議
NKT6200-B干濕一體激光粒度儀，搭載多項創(chuàng)新專業(yè)技術，配備三鏡頭光學系統(tǒng)，并結合耐克特新一代前向、側向與后向探測器陣列，顯著拓寬測量量程，全面提升儀器性能...
NKT2020-L干法激光粒度儀 參考價：面議
NKT2020-L干法激光粒度儀，配備高密度光電陣列探頭及全量程無縫測試技術，實現(xiàn)了探測范圍全覆蓋與信號的無遺漏采集，確保測試結果具備準確性和重復性。
NKT2020-H干法激光粒度儀 參考價：面議
NKT2020-H干法激光粒度儀，配備高密度光電陣列探頭及全量程無縫測試技術，實現(xiàn)了探測范圍全覆蓋與信號的無遺漏采集，確保測試結果具備準確性和較佳的重復性。
NKT5100-H濕法激光粒度儀 參考價：面議
NKT5100-H濕法激光粒度儀，配置了獨特的濕法循環(huán)分散系統(tǒng)，采用管道無殘留結構設計，可有效避免測試過程中大顆粒沉積及結束后廢液積存問題，這一設計不僅保障了不...
NKT5200-H濕法激光粒度儀 參考價：面議
NKT5200-H濕法激光粒度儀，采用雙鏡頭光學系統(tǒng)，結合新一代前向、側向、 后向探測器陣列，顯著拓展測量量程并全面提升綜合性能。
NKT5300-H濕法激光粒度儀 參考價：面議
NKT5300-H濕法激光粒度儀，采用雙鏡頭光學系統(tǒng)，結合新一代前向、側向、 后向探測器陣列，顯著拓展測量量程并全面提升綜合性能。
NKT5500-H濕法激光粒度儀 參考價：面議
NKT5500-H濕法激光粒度儀，采用雙鏡頭光學系統(tǒng)，結合新一代前向、側向、 后向探測器陣列，顯著拓展測量量程并全面提升綜合性能。
NKT5600-H濕法激光粒度儀 參考價：面議
NKT5600-H濕法激光粒度儀，采用創(chuàng)新的傅里葉變換鏡頭與濾波鏡頭協(xié)同工作的雙鏡頭設計方案。該技術構建了一條純凈的單光路檢測環(huán)境，能高效濾除入射光信號中的非必...
NKT6100-A濕法激光粒度儀 參考價：面議
NKT6100-A濕法激光粒度儀，集成多項創(chuàng)新與專業(yè)技術，采用雙鏡頭光學系統(tǒng)，并結合新一代前向、側向與后向探測器陣列，顯著提升測量量程與綜合性能。
NKT6100-H濕法激光粒度儀 參考價：面議
NKT6100-H濕法激光粒度儀，集成多項創(chuàng)新與專業(yè)技術，采用雙鏡頭光學系統(tǒng)，并結合新一代前向、側向與后向探測器陣列，顯著提升測量量程與綜合性能。硬件系統(tǒng)全面升...
NKT6100-C濕法激光粒度儀 參考價：面議
NKT6100-C濕法激光粒度儀，集成多項創(chuàng)新與專業(yè)技術，采用先進雙鏡頭光學系統(tǒng)，并結合新一代前向、側向與后向探測器陣列，顯著提升測量量程與綜合性能。
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