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當(dāng)前位置:成都藤田光學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>OTSUKA/日本大塚
日本OTSUKA大塚線掃描膜厚計(jì)?離線型可以檢查薄膜等表面膜厚不均可以快速且高精度地進(jìn)行全面測量膜厚測量的專門制造商所提供的充實(shí)支持分光測量進(jìn)行高精度的膜厚測量...
日本OTSUKA大塚膜厚線掃描膜厚計(jì)?在線型采用線掃描方式實(shí)現(xiàn)了全面無“漏"的膜檢查。膜厚測量的專門制造商所提供的充實(shí)支持高速?高精度地測量成為可能采用抗晃動(dòng)的...
日本OTSUKA大塚膜厚測定多通道分光器MCPD這是從紫外線到近紅外區(qū)域的多功能多通道分光檢測器。最短5毫秒內(nèi)可以進(jìn)行分光光譜測量。通過標(biāo)準(zhǔn)裝置的光纖,可以在不...
日本OTSUKA大塚 嵌入式膜厚監(jiān)測器
日本OTSUKA大塚智能膜厚儀 SM-100系列「便攜式手提類型」1.1公斤,輕便易攜帶「高精度測量&簡單測量」最薄0.1 μm直到可以測量而無需刻度線「多層膜...
日本OTSUKA大塚顯微分光膜厚計(jì)FE-300F系列這是一款通過高精度的光干涉法進(jìn)行膜厚測量的小型且價(jià)格低廉的膜厚計(jì),實(shí)現(xiàn)了簡單操作。我們采用了將所需設(shè)備集成在...
日本OTSUKA大塚顯微分光膜厚計(jì)OPTM系列OPTM(オプティム)是利用顯微分光進(jìn)行微小區(qū)域絕對反射率測量的裝置,能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的膜厚和光學(xué)常數(shù)解析??梢苑瞧?..
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