主要應(yīng)用范圍：有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體、金屬、薄膜、太陽(yáng)能電池和有機(jī)光伏材料、腐蝕等領(lǐng)域的研究。

功函分辨率1-3meV。

掃描面積：5mm-300mm（四種型號(hào)，各型號(hào)掃描面積 不同）。

掃描分辨率：0.3um。

自動(dòng)高度調(diào)節(jié)。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

單點(diǎn)開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置，用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3meV業(yè)界分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。

應(yīng)用領(lǐng)域：

有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體

金屬

薄膜

太陽(yáng)能電池和有機(jī)光伏材料

腐蝕

升級(jí)附件：

大氣光子發(fā)射系統(tǒng)

表面光電壓(QTH or LED)

SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)

金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm

相對(duì)濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境箱