熱重分析儀2 參考價(jià)：面議
NETZSCH TG 209 F1
熱重分析儀 參考價(jià)：面議
型號：NETZSCHTG209F3熱重分析儀TG209F3，不僅適用于聚合物領(lǐng)域的質(zhì)量檢測，也適用于有機(jī)化學(xué)、藥物、化妝品與食品領(lǐng)域的常規(guī)應(yīng)用
差示掃描量熱儀5 參考價(jià)：面議
型號：DSC204F1差示掃描量熱儀DSC204F1在儀器的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與靈活性方面又有新的突破
差示掃描量熱儀4 參考價(jià)：面議
型號：DSC3500SiriusDSC3500Sirius結(jié)合新技術(shù)，具有很高的靈敏度，測量系統(tǒng)穩(wěn)固耐用、易于操作
差示掃描量熱儀3 參考價(jià)：面議
型號：DSC204HPR設(shè)備參數(shù)溫度范圍:-150...600°C升/降溫速率:0...100°C/min分辨率:0.1μW壓力范圍:真空...15MPa，精度...
差示掃描量熱儀2 參考價(jià)：面議
型號：DSC404F3一款快速測量、可靠性好、性價(jià)比高的測試儀器
差示掃描量熱儀 參考價(jià)：面議
型號：DSC214Polyma跨越了傳統(tǒng)熱流型和功率補(bǔ)償型DSC的鴻溝，是迄今能夠?qū)崿F(xiàn)高速升降溫的熱流型DSC
大力值DMA+300 參考價(jià)：面議
法國Metravib公司的DMA+300基于研究和工業(yè)測試的廣泛需求，應(yīng)運(yùn)而生，能對材料的復(fù)合模量和損耗因子等進(jìn)行高精密度測量
同步熱分析儀3 參考價(jià)：面議
型號：STA449F1/F3STA449
同步熱分析儀2 參考價(jià)：面議
型號：STA449F5耐馳STA449曾榮獲R綜合了TG系統(tǒng)和DSC系統(tǒng)，提供的配置和優(yōu)異性能，性價(jià)比高
同步熱分析儀 參考價(jià)：面議
型號：STA2500STA2500是頂部裝樣系統(tǒng)，具有的自補(bǔ)償式差動(dòng)天平設(shè)計(jì)
導(dǎo)熱儀 參考價(jià)：面議
型號：LFA467/LFAHT467/LFA457可在室溫...1250°C之間精確測量材料的熱擴(kuò)散系數(shù)、比熱與導(dǎo)熱系數(shù)
正置顯微鏡 參考價(jià)：面議
型號：DM2700MDM2700M正置金相顯微鏡由高質(zhì)量的徠卡光學(xué)元件以及的通用白光LED照明組成
偏光顯微鏡 參考價(jià)：面議
型號：DM750P專業(yè)偏光顯微鏡，適用于巖片、玻璃、陶瓷、塑料、高分子材料等樣品的偏光特性常規(guī)觀察、分析
倒置顯微鏡 參考價(jià)：面議
型號：DMi8M/C/A工業(yè)倒置顯微鏡采用的UC-3D照明裝置，實(shí)現(xiàn)更高的對比度，無論是金相學(xué)、醫(yī)療設(shè)備制造還是微電子領(lǐng)域，高度模塊化的設(shè)置均能夠滿足不同的需求
體式顯微鏡 參考價(jià)：面議
型號：M50、M60和M80輕松檢驗(yàn)、篩選、觀察或記錄
共聚焦顯微鏡 參考價(jià)：面議
型號：LSM900LSM900激光掃描共聚焦顯微鏡是一臺(tái)用于材料研究與分析的儀器，可在實(shí)驗(yàn)室或多用戶設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌
超景深顯微鏡 參考價(jià)：面議
VHX-X1系列是一款凝聚了觀察，記錄，測量所有功能的一體化裝置
SENresearch4.0寬光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3，500nm（近紅外）
Sendira紅外光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR
PSEL勞厄衍射系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
該設(shè)備利用背衍射法探測材料的晶體結(jié)構(gòu)，常用于單晶定向、測定晶體對稱性、表征晶體的成晶質(zhì)量等
8600系列振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì) 參考價(jià)：面議
8600系列VSM采用大量的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，在降低測量噪聲的同時(shí)提高了采樣速度
MCS-EMP霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
MCS-EMP多用途電磁鐵平臺(tái)提供了自動(dòng)化可變磁場實(shí)驗(yàn)所需的所有基本組件，包括兩種尺寸可選（4英寸/7英寸）的電磁體，兩種尺寸可選（2英寸/4英寸）的磁極帽和磁...
低溫探針臺(tái)系列 參考價(jià)：面議
低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場配置(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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