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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>計量儀表>>計數(shù)器>> DTSP10-03日本NCC晶圓晶片附著粉塵分級計量設(shè)備
產(chǎn)品型號DTSP10-03
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時間：2026-02-28 16:42:13瀏覽次數(shù)：58次
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日本NCC半導(dǎo)體無塵室落塵監(jiān)測儀自動計數(shù)
日本NCC硅晶片采樣無塵室監(jiān)測落下塵計數(shù)器
Com-System可連接PC高精度空氣離子計數(shù)器
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,電氣 |
|---|
日本NCC晶圓晶片附著粉塵分級計量設(shè)備
日本NCC晶圓晶片附著粉塵分級計量設(shè)備
| 項目 | 說明 |
|---|---|
| 測量對象 | 落下的附著粉塵（非浮游粉塵） |
| 粒徑范圍 | 10μm～100μm粗大粒子（分級計量） |
| 采樣方式 | 使用樣品收集板（4英寸硅晶片） |
| 測量原理 | 收集落下并附著于晶片上的粉塵，進(jìn)行分級計數(shù) |
| 數(shù)據(jù)輸出 | 測定結(jié)果可在電腦上顯示并保存 |
| 安裝要求 | 必須安裝在100級左右的無塵環(huán)境中 |
| 痛點(diǎn) | 解決方案 |
|---|---|
| 用粘性膠帶采樣+顯微鏡觀察計數(shù)，效率低下費(fèi)時 | 自動分級計數(shù)，高效快速 |
| 想調(diào)查裝置內(nèi)附著的塵埃，但找不到好的測定方法 | 晶片采樣，可放入設(shè)備內(nèi)部 |
| 想調(diào)查高溫爐內(nèi)、運(yùn)行中傳送帶等附著的灰塵 | 使用2英寸晶片（直徑50mm）可進(jìn)入狹小空間 |
| 參數(shù) | DTSP10-02 | DTSP10-03 | DTSP10-03（2英寸版） |
|---|---|---|---|
| 最小可測粒徑 | 10μm | 10μm | 10μm |
| 粒徑區(qū)分 | 10μm、30μm、50μm、100μm | 10μm、30μm、50μm、100μm + 11～99μm范圍內(nèi)可設(shè)定數(shù)值 | （同左） |
| 晶片尺寸 | 4英寸 | 4英寸 | 2英寸 |
| 最大測試范圍 | Ф80mm | Ф80mm | Ф30mm |
| Trimming功能 | 有 | 有 | 無 |
| 切換顯示 | 無 | 有（可區(qū)分表示） | （同左） |
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