進口透射電鏡 參考價：面議
進口透射電鏡適用于所有材料科學和半導體應用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡。
fei冷凍透射電鏡 參考價：面議
200 kV冷凍透射電鏡 Glacios 冷凍 TEMGlacios 2 冷凍透射電鏡可無縫集成到單顆粒分析和冷凍電子斷層掃描工作流程中，并且可在整個工作流程中...
fei透射電子顯微鏡 參考價：面議
fei透射電子顯微鏡是一個強大的多功能系統(tǒng)，可在細胞生物學、結構生物學和納米技術研究中提供生物和生物材料樣品的 3D 表征。憑借自身可提高通量、穩(wěn)定性和易用性的...
fei雙束電子顯微鏡 參考價：面議
賽默飛Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡是一款超高分辨率 DualBeam? 分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI...
冷凍聚焦離子束顯微鏡 參考價：面議
Aquilos 2 Cryo FIB 冷凍聚焦離子束顯微鏡專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
fei掃描透射電子顯微鏡 參考價：面議
fei掃描透射電子顯微鏡新的檢測功能，使科學家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級數(shù)據(jù)，以滿足更廣泛的應用需求。該平臺可以獲得極其光束敏感的材料和半導體結構的詳...
fei掃描電子顯微鏡 參考價：面議
fei掃描電子顯微鏡用于半導體工業(yè)的 FIB-SEM TEM 樣品制備，可實現(xiàn)全晶圓分析。
fei透射電鏡分析 參考價：面議
透射電鏡Spectra Ultra S/TEM高亮度肖特基場發(fā)射槍，配備超穩(wěn)定單色器和加速電壓，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1eV-0.05eV（60kV 下 0....
進口掃描電鏡 參考價：面議
Volumescope 2 SEM掃描電鏡適用于對樣品進行大體積連續(xù)切片以及多能量反卷積三維重構的SEM掃描電鏡。
掃描電子顯微鏡品牌 參考價：面議
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于超高分辨率、高質(zhì)量樣品制備和 3D 表征。
fei透射電鏡 參考價：面議
fei透射電鏡使用無邊緣效應成像 (FFI) 可在每個樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。
fei掃描電鏡 參考價：面議
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡簡單易用，讓使用者能夠精準的控制實驗，已驗證的解決方案適用于各種樣品類型，保證數(shù)據(jù)采集的每一步都達到...
冷凍透射電子顯微鏡 參考價：面議
Krios G4冷凍透射電子顯微鏡（cryo-TEM）是該系列產(chǎn)品中設計緊湊的。通過對機械底座框架和設備外殼的全新設計，該款設備凈身高縮短至3 m以內(nèi)，適用于任...
賽默飛 Iliad 球差校正透射電鏡 參考價：面議
賽默飛 Iliad 球差校正透射電鏡是集成化的球差校正分析型電鏡，配備全新EELS、能量過濾器、Zebra探測器及NanoPulser超快靜電束閘，支持Dual...
集成能譜場發(fā)射掃描電鏡 參考價：面議
Thermo Scientic? Apreo? ChemiSEM?集成能譜場發(fā)射掃描電鏡實現(xiàn)了技術創(chuàng)新，簡化了分析流程。通過全面集成用于高分辨率成像、元素分析和...
賽默飛礦物參數(shù)自動定量分析系統(tǒng) 參考價：面議
Maps Mineralogy賽默飛礦物參數(shù)自動定量分析系統(tǒng)軟件采用Maps軟件進行數(shù)據(jù)采集，而Maps軟件為顯微鏡自動化和關聯(lián)工作流程平臺，軟件界面直觀，數(shù)據(jù)...
ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針 參考價：面議
ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針ESCALAB QXi的樣品臺上的所有運動軸均由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)控制，儀器上安裝了高分辨率數(shù)碼攝像...
Nexsa G2 表面分析系統(tǒng) 參考價：面議
Nexsa G2 表面分析系統(tǒng)高效的電子透鏡、半球形分析器和檢測器使其具有的檢測能力和快速的數(shù)據(jù)采集能力。
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng) 參考價：面議
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實現(xiàn)的檢測和快速數(shù)據(jù)采集。
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價：面議
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于超高分辨率、高質(zhì)量樣品制備和 3D 表征。
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束 參考價：面議
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡 參考價：面議
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡具有多個離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
Helios 5 Laser PFIB System 參考價：面議
Helios 5 Laser PFIB System 可以利用納米級分辨率實現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。
Helios 5 PFIB DualBeam 參考價：面議
Helios 5 PFIB DualBeam由于新 PFIB 色譜柱可實現(xiàn) 500 V Xe+ 最終拋光和所有操作條件下的優(yōu)異性能，因此可以實現(xiàn)高質(zhì)量、無鎵TE...
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