場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JSM-IT810場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無(wú)需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能...
日本電子IT210 掃描電鏡 參考價(jià)：面議
JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速；而且因?yàn)檠b有“Simple SEM"，只需選好微區(qū)就...
日本電子SEM 參考價(jià)：面議
JSM-IT510 InTouchScope? 日本電子SEM不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場(chǎng)景中，用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相...
掃描電鏡價(jià)格 參考價(jià)：面議
JSM-IT210 InTouchScope? 掃描電鏡價(jià)格不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場(chǎng)景中，用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相同...
JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀 參考價(jià)：面議
JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線(xiàn)法）、RoHS元素篩選功能等?！?..
雙束加工觀察系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過(guò)程的復(fù)雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評(píng)估技術(shù)也對(duì)分辨率和精度有了更高的要求。為了滿(mǎn)足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工...
JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨...
JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀 參考價(jià)：面議
JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡(jiǎn)單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是...
CP截面樣品制備裝置 參考價(jià)：面議
IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將...
IB-19530CP截面樣品制備裝置 參考價(jià)：面議
IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿(mǎn)足市場(chǎng)多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
離子切片儀 參考價(jià)：面議
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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