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在材料檢測(cè)與研發(fā)中，科研人員常常面臨一個(gè)抉擇：用掃描電鏡（SEM）看清樣品形貌后，若想進(jìn)一步分析其成分、缺陷或發(fā)光特性，往往需要切換模式、更換探測(cè)器，甚至動(dòng)用另一臺(tái)專(zhuān)用設(shè)備。這個(gè)過(guò)程耗時(shí)耗力，還可能丟...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容JEOL冷凍電鏡成功觀測(cè)到蛋白質(zhì)中的氫原子、電荷及化學(xué)鍵日本理化研究所、東北大學(xué)和JST（科學(xué)技術(shù)振興機(jī)構(gòu)）的科學(xué)家們利用JEOLCryoARM300冷凍電子顯微鏡以1.19埃的分辨率，成功觀測(cè)到蛋白...
點(diǎn)擊了解詳細(xì)內(nèi)容第20屆國(guó)際顯微鏡學(xué)會(huì)于今年9月10日-15日在韓國(guó)釜山的BEXCO舉行。JEOL攜帶涵蓋各領(lǐng)域的新技術(shù)和實(shí)用技術(shù)的有用信息出展IMC20，并布置各種產(chǎn)品信息板塊:半導(dǎo)體用JEM-ACE200F-TE...
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