顯微分光膜厚儀 參考價(jià)：面議
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測(cè)量項(xiàng)目：?絕.對(duì)反射率測(cè)量?多層膜解析?光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
便攜式拉曼光譜儀 參考價(jià)：面議
AMOS RU120基本緊湊便攜式拉曼光譜儀是一款獨(dú)立的研究?jī)x器，旨在進(jìn)行光譜測(cè)量，其能力達(dá)到*端系統(tǒng)的水平。 RU120采用剛性無(wú)活動(dòng)部件設(shè)計(jì)，無(wú)需調(diào)整，具有...
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過(guò)自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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