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RESOChron雙年代測試系統(tǒng) 詳細(xì)摘要： RESOChron雙年代測試系統(tǒng)可以快速且低成本地獲得雙測年結(jié)果，通過光學(xué)干涉測量、X射線顯微層析或掃描電子顯微鏡測量剝蝕坑體積，該儀器適用于基礎(chǔ)地球科學(xué)研究中...
產(chǎn)品型號： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2025-10-30 參考價(jià)： 面議 在線留言
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北京布拉德科技發(fā)展有限公司
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