原位變溫缺陷能級(jí)表征系統(tǒng) 參考價(jià):面議
MDpicts pro 原位變溫缺陷能級(jí)表征系統(tǒng),優(yōu)點(diǎn)是非接觸式,是一種對(duì)待測(cè)樣品無損傷和非破壞式的檢測(cè)手段,采用微波諧振微波腔來接收信號(hào)。由缺陷捕獲載流子的再...高分辨率變溫少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià):面議
MDpicts pro高分辨率變溫少子壽命測(cè)試儀,系統(tǒng)能夠適用于各種不同材料和制備階段的測(cè)量,范圍從硅原料、裸晶圓到不同的制備階段,再到HgCdTe、CZT、I...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)