高性價(jià)比干涉式激光尺 參考價(jià)：面議
高性價(jià)比干涉式激光尺摒棄了傳統(tǒng)激光干涉儀的分立光學(xué)器件結(jié)構(gòu)，將激光器、調(diào)制器、光電探測(cè)器和濾波器等眾多光學(xué)元件集成至單一光學(xué)芯片上，并與激光二極管、探測(cè)器陣列和...
H9/H9M 白光干涉表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
Heliotis H9/H9M 均為工業(yè)級(jí)白光干涉（WLI）3D 表面輪廓儀，基于低相干寬帶光在零光程差附近形成高對(duì)比度條紋，通過 Z 軸掃描與像素級(jí)相干峰 /...
TopMap Micro.View 白光干涉儀（3D形貌儀） 參考價(jià)：面議
Polytec GmbH提供完整的光學(xué)表面計(jì)量解決方案，用于工程表面質(zhì)量檢測(cè)和形狀評(píng)估 - 無論是數(shù)控加工精密零件的平面度或臺(tái)階高度、光滑光學(xué)元件的翹曲和形狀，...
TopMap Metro.Lab 白光干涉儀（3D形貌儀） 參考價(jià)：面議
Polytec旗下的 TopMap Metro.Lab，是一款高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），以其大垂直測(cè)量范圍與納米級(jí)分辨率脫穎而出。這一特性，使得 Me...
SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS 參考價(jià)：面議
SIOS雙光束激光干涉儀SP 5000 DS用于需要同時(shí)獲取運(yùn)動(dòng)角度和長(zhǎng)度信息的測(cè)量任務(wù)。該干涉儀的測(cè)量原理基于 SP 5000 NG 測(cè)量設(shè)備。兩個(gè)測(cè)量激光束...
VFI 光纖端面干涉儀 參考價(jià)：面議
VFI 光纖端面干涉儀可測(cè)量大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)和特種光纖，包括保偏光纖和空芯光纖。VFI光纖端面干涉儀在研究、生產(chǎn)和質(zhì)量保證領(lǐng)域已得到反復(fù)驗(yàn)證。
雙頻激光干涉儀 參考價(jià)：面議
雙頻激光干涉儀HPI-3D是市場(chǎng)上的高性能激光干涉儀之一。作為雙頻外差系統(tǒng)，它的測(cè)量精度和分辨率為用戶提供了大量新的選擇。非常容易使用，它既可以應(yīng)用于研究實(shí)驗(yàn)室...
法國(guó)Phasics多波長(zhǎng)激光干涉儀模塊 參考價(jià)：面議
KALEO套件多波長(zhǎng)激光干涉儀模塊是用于光學(xué)計(jì)量的模塊化系統(tǒng)。 它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶搭建一個(gè)經(jīng)濟(jì)有效，體積緊湊且易于使用的完整光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)。...
半導(dǎo)體/薄膜無損檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體/薄膜無損檢測(cè)儀：半導(dǎo)體行業(yè)為我們周圍遇到的大多數(shù)電子設(shè)備提供了基本組件。它的制造需要在硅晶片上進(jìn)行多次薄膜沉積，。
綜合電子測(cè)量分析儀（十二功能合一） 參考價(jià)：面議
綜合電子測(cè)量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號(hào)。在100Hz的zui小跨度下，同時(shí)查看分辨率低至1 Hz的兩個(gè)數(shù)據(jù)通道。頻...
皮米精度位移激光干涉儀 參考價(jià)：面議
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測(cè)量?jī)xquDIS是對(duì)納米級(jí)別的位移波動(dòng)進(jìn)行量測(cè)的理想儀器，基于其*的測(cè)量原理，相對(duì)距離的重復(fù)精度達(dá)到了50皮米。quDIS可同時(shí)支...
λ/1000超高精度激光干涉儀 參考價(jià)：面議
愛沙尼亞Difrotec公司的激光干涉儀是市場(chǎng)上高精度干涉儀的*產(chǎn)品，測(cè)量精度可達(dá)0.6nm（λ/1000）. 其*產(chǎn)品D7激光干涉儀采用點(diǎn)衍射技術(shù)，主要用于高...
直接激光干涉圖形加工器 參考價(jià)：面議
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡(jiǎn)便地、高速地在大范圍區(qū)域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。
激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無損檢測(cè) 參考價(jià)：面議
激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無損檢測(cè)是所有的光學(xué)模組和激光器集成在一個(gè)手持式，耐用和輕便的機(jī)殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測(cè)了。
光纖法布里-珀luo干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計(jì)。FFP 的設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔優(yōu)雅的關(guān)鍵在于其無透鏡全光纖結(jié)構(gòu)。沒有準(zhǔn)直光學(xué)器件或透鏡，消除...
點(diǎn)衍射激光干涉儀 參考價(jià)：面議
點(diǎn)衍射激光干涉儀:絕對(duì)測(cè)量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000)分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (...
太赫茲掃描干涉儀 參考價(jià)：面議
太赫茲掃描干涉儀主要用于測(cè)量窄帶太赫茲輻射的波長(zhǎng)和強(qiáng)度分布，同時(shí)也可用于脈沖和連續(xù)窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個(gè)半透明平行硅鏡組成，其中一個(gè)安裝在電機(jī)驅(qū)動(dòng)的...
多波長(zhǎng)動(dòng)態(tài)干涉儀 參考價(jià)：面議
Kaleo MultiWAVE多波長(zhǎng)動(dòng)態(tài)干涉儀同時(shí)可提供媲美Fizeau干涉儀測(cè)量精度，及動(dòng)態(tài)干涉儀的抗震性能。
皮米級(jí)絕對(duì)距離測(cè)量干涉儀 參考價(jià)：面議
皮米級(jí)絕對(duì)距離測(cè)量干涉儀通過將可調(diào)激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測(cè)量轉(zhuǎn)換為頻率變化的測(cè)量。當(dāng)F-P腔長(zhǎng)在變化時(shí)，其諧振峰的頻率也在...
白光干涉儀 參考價(jià)：面議
Xper WLI 是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非...
邁克爾遜干涉儀 FTIR用 參考價(jià)：面議
在一個(gè)臂上增加一個(gè)移動(dòng)反光鏡以完成干涉儀，并允許光路差在零OPD附近變化。堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和對(duì)準(zhǔn)的特點(diǎn)，意味著 INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀...
高精度位移測(cè)量?jī)x-激光干涉儀 參考價(jià)：面議
昊量光電推出的PICOSCALE位移測(cè)量?jī)x產(chǎn)品是基于激光干涉方法設(shè)計(jì)的非接觸式位移和振動(dòng)測(cè)量設(shè)備。因?yàn)椴恍枰锢斫佑|，所以測(cè)量不會(huì)影響物體。這尤其適用于較小的物...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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