FEI Verios XHR SEM 掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
FEI Verios XHR SEM 掃描電子顯微鏡是 FEI *的 XHR（*分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在*半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至...
FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個(gè)變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM?）和兩個(gè)DualBeam?系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個(gè)樣品和工業(yè)過(guò)程控...
FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環(huán)境 TEM 平臺(tái)，設(shè)計(jì)用來(lái)觀測(cè)功能性納米材料及其隨著時(shí)間的推移對(duì)氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借*的差動(dòng)泵...
FEI Talos F200系列 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
FEI Talos F200系列 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 （STEM） 和 TEM 成像功能與的能量色散 X 射線(xiàn)光譜儀 ...
FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒(méi)技術(shù)，可產(chǎn)生*的高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑...
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代，超大樣品室為各類(lèi)繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動(dòng)化的5軸樣品臺(tái)和...
蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
蔡司 SIGMA高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過(guò)0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺(tái)。Sigma500...
蔡司 Gemini SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
蔡司 Gemini SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來(lái)，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測(cè)系統(tǒng)、*的分辨率以及簡(jiǎn)便的操作方式...
FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
FEI Nova Nano SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對(duì)有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)...
FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿(mǎn)足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡(jiǎn)單易用的 InspectTM 專(zhuān)為滿(mǎn)足研究各類(lèi)材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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