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薄膜沉積系統(tǒng)
Trion Orion III PECVD薄膜沉積系統(tǒng)可以在緊湊的平臺(tái)上生產(chǎn)高品質(zhì)的薄膜。*的反應(yīng)器設(shè)計(jì)可以在在極低的功率生產(chǎn)具有優(yōu)異臺(tái)階覆蓋的低應(yīng)力薄膜。該系...
型號(hào)： Trion Ori...
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/14 14:27:23
對(duì)比
薄膜沉積薄膜沉積系統(tǒng)
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快速退火爐
AS-One systems快速退火爐是專門為滿足大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和小規(guī)模生產(chǎn)的需求而研制的，高可靠且性價(jià)比高。該工藝室采用貝殼式設(shè)計(jì)，可*進(jìn)入底板，方便裝載和...
型號(hào)： AS-One sy...
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/14 14:20:30
對(duì)比
快速退火爐退火爐AS-One systems快速退火爐
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RSS-160-S 迷你真空燒結(jié)爐回流焊系統(tǒng)
RSS-160-S 迷你真空燒結(jié)爐回流焊系統(tǒng)是各類焊接工藝的理想工具，可處理的基板尺寸最大為 210 毫米 ×210 毫米，高度為 40 毫米（可選配增高款）。
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/14 14:18:11
對(duì)比
真空燒結(jié)爐回流焊UNITEMP
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WB300芯片鍵合機(jī)
WB300芯片鍵合機(jī)是一款JFP microtechnic設(shè)計(jì)與制造的超聲波與回流焊芯片鍵合機(jī)。
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥100000更新時(shí)間：2025/8/14 14:10:45
對(duì)比
鍵合機(jī)芯片鍵合JFPJFP microtechnic
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KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測(cè)試儀
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測(cè)試儀，方塊電阻測(cè)試儀可對(duì)金屬層厚度、薄膜電阻、薄膜電阻率、薄膜電導(dǎo)和薄膜電導(dǎo)率進(jìn)行測(cè)繪。R54是方塊電阻測(cè)量...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/8/14 14:00:11
對(duì)比
R50方塊電阻測(cè)試儀R50系列四探針電阻測(cè)試儀電阻測(cè)試儀方塊電阻測(cè)試四探針電阻測(cè)試
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KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀
KLA Tencor? P-7探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供了從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能。該系統(tǒng)支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行二維(2D)和...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/8/14 13:53:55
對(duì)比
kla探針式輪廓儀kla p-7p-7臺(tái)階儀
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KLA iMicro納米壓痕儀
KLA iMicro納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬質(zhì)涂層、薄膜和小尺寸材料等。其準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度測(cè)試、劃痕和納米級(jí)萬能試驗(yàn)等多種納米力學(xué)測(cè)試...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/8/14 13:50:41
對(duì)比
KLA iMicro納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀納米劃痕測(cè)試納米壓痕測(cè)量
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KLA Candela® 8720表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
KLA Candela? 8720表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)*的集成式表面和光致發(fā)光(PL)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)可以捕獲各種關(guān)鍵襯底和外延缺陷。采用統(tǒng)計(jì)制程控制(SPC)的方法來...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/8/14 13:49:33
對(duì)比
KLA Candela® 8720表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)晶圓表面缺陷檢測(cè)晶圓光學(xué)檢測(cè)晶圓檢測(cè)
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薄膜厚度測(cè)量?jī)x
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x采用自動(dòng)化R-Theta平臺(tái)，支持標(biāo)準(zhǔn)和定制化樣品夾盤，最大樣品直徑達(dá)450毫米，能高效測(cè)繪薄膜厚度。該設(shè)備適...
型號(hào)： KLA Filme...
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥50000更新時(shí)間：2025/8/14 13:48:16
對(duì)比
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F50薄膜厚度測(cè)量?jī)xFilmetrics F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x白光干涉測(cè)厚儀
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薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)
薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)：在硅片等基板上附膜時(shí)，由于基板和薄膜的物理定數(shù)有異，產(chǎn)生應(yīng)力，進(jìn)而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現(xiàn)為基板的翹曲，而薄膜應(yīng)力測(cè)量裝...
型號(hào)： Toho FLX-...
所在地：國(guó)外
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/14 13:43:43
對(duì)比
薄膜測(cè)試薄膜應(yīng)力日本薄膜應(yīng)力薄膜應(yīng)力測(cè)試薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)
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Tergeo-Pro桌面等離子清洗機(jī)
Tergeo-Pro桌面等離子清洗機(jī)和蝕刻機(jī)專為研究、開發(fā)和小批量生產(chǎn)而量身定制。Tergeo系列桌面等離子清洗機(jī)在表面清洗、活化、有機(jī)污染物去除、粘合增強(qiáng)和光...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
￥100000更新時(shí)間：2025/8/14 13:40:05
對(duì)比
等離子清洗光刻膠灰化硅晶片清洗pie scientificTergeo
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AT610 經(jīng)濟(jì)性原子層沉積設(shè)備
AT610 經(jīng)濟(jì)性原子層沉積設(shè)備是小占地面積臺(tái)式系統(tǒng)。采用半導(dǎo)體級(jí)金屬密封管路以及兼容高溫的快速脈沖原子層沉積（ALD）閥。用于集成惰性氣體吹掃的超快速質(zhì)量流量...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/1 11:02:20
對(duì)比
原子層沉積設(shè)備
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AT200M 經(jīng)濟(jì)型原子層沉積設(shè)備
ANRIC推出了目前市場(chǎng)上占地面積最小的原子層沉積（ALD）設(shè)備。AT200M 經(jīng)濟(jì)型原子層沉積設(shè)備型號(hào)體積小巧，足以放入手套箱內(nèi)，因此成為對(duì)濕氣或空氣敏感的沉...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/1 10:11:02
對(duì)比
薄膜原子沉積設(shè)備
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AT410 經(jīng)濟(jì)型原子層沉積設(shè)備
AT410 經(jīng)濟(jì)型原子層沉積設(shè)備具備諸多優(yōu)勢(shì)：為占地小的桌面系統(tǒng)，尺寸明確；有新增功能可用的空心陰極射頻源（AT - 410 Plus 配 300W 等離子）
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/1 10:10:39
對(duì)比
晶圓沉積薄膜生長(zhǎng)
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AT650/850P 臺(tái)式等離子原子層沉積設(shè)備
AT650/850P 臺(tái)式等離子原子層沉積設(shè)備，其以熱系統(tǒng)，配備新高級(jí)空心陰極源與 60 MHz RF，有低氧污染等特點(diǎn)；占地小，可容納 6 英寸及更小樣品，可...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/8/1 10:10:10
對(duì)比
薄膜
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AT650/850T 臺(tái)式熱原子層沉積設(shè)備
AT650/850T 臺(tái)式熱原子層沉積設(shè)備，具備現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)為等離子體模式的能力，占地面積?。?8.1 厘米，寬 15 英寸），可容納直徑為 6 英寸或更小的樣品。
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/31 16:32:42
對(duì)比
薄膜
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LT-AC/DC 臺(tái)式霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
LT-AC/DC 臺(tái)式霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)是一個(gè)集成的硬件和軟件系統(tǒng)，旨在測(cè)量和分析樣品的電子特性。
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/29 11:22:58
對(duì)比
霍爾效應(yīng)測(cè)量
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CERES 微納米級(jí)純金屬3D打印系統(tǒng)
CERES 微納米級(jí)純金屬3D打印系統(tǒng) 是一款獨(dú)立的 3D 打印系統(tǒng)，用于以微米級(jí)和亞微米級(jí)分辨率打印復(fù)雜幾何形狀的純金屬物體。通過利用精確電沉積的驚人精度，C...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/28 11:21:05
對(duì)比
金屬3D打印微納米級(jí)3D打印EXADDON
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hpSPM 掃描探針顯微鏡控制器
hpSPM 掃描探針顯微鏡控制器控制電子設(shè)備可以在 STM 和 AFM 模式下作掃描探針顯微鏡。電子單元安裝在 3U 高的外殼框架中，可容納 13 個(gè) 220x...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 15:08:14
對(duì)比
顯微鏡控制器掃描探針顯微鏡控制器
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NMI 納米定位器
NMI 納米定位器采用超微型、低溫壓電納米定位器，專為科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用中的高精度和穩(wěn)定性而設(shè)計(jì)。它們專為需要精細(xì)掃描范圍和高分辨率位置傳感的應(yīng)用而設(shè)計(jì)，使其成為精...
型號(hào)：
所在地：香港特別行政區(qū)
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2025/7/25 14:09:55
對(duì)比
納米定位器
