產(chǎn)品規(guī)格

• 0.82 NA / 0.95mm WD 低溫 APO 物鏡

• 10mK-300K 溫度范圍

• 磁場(chǎng)高達(dá) 31 特斯拉

• 掃描范圍：300K 時(shí)為 50×50×25μm；4K 時(shí)為 30×30×15μm

• 樣品逼近：6×6×12mm XYZ 范圍，步長(zhǎng) 50 - 700nm

• 閉環(huán)操作：分辨率 200nm 的電阻式編碼器

• 精細(xì)掃描范圍：300K 時(shí)為 7.5μm；4.2K 時(shí)為 1μm

• 樣品尺寸：最大 10×10×5mm

• 樣品架：8 針連接用于實(shí)驗(yàn)

• 溫度范圍：10mK - 300K（受低溫系統(tǒng)限制 ）

• 磁場(chǎng)：最高 31T

• 運(yùn)行環(huán)境：真空或置換氣體環(huán)境

• 兼容性：與多數(shù)低溫恒溫器及 50mm 冷腔的稀釋制冷機(jī)兼容

在涵蓋掃描、樣品適配、環(huán)境控制、兼容性等參數(shù)，用于低溫、強(qiáng)磁場(chǎng)等特殊實(shí)驗(yàn)場(chǎng)景（如量子材料研究 ） 。

在材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域，常指通過特定表征技術(shù)（如拉曼映射、掃描探針顯微鏡等 ）獲取的、呈現(xiàn)單層石墨烯材料特性（結(jié)構(gòu)、光學(xué)、電學(xué)等 ）空間分布的圖像，用于研究單層石墨烯的均勻性、缺陷等情況 。