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當(dāng)前位置:德國韋氏納米系統(tǒng)有限公司>>KLA/科磊>>探針式輪廓儀>> KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀
KLA-Tencor
生產(chǎn)商
香港特別行政區(qū)
更新時間:2025-03-07 14:32:42瀏覽次數(shù):476次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 產(chǎn)品種類 | 接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 50萬-100萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天,電氣 |
KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀是一款自動化輪廓儀,具有行業(yè)優(yōu)秀的P-17的臺式系統(tǒng)測量性能和經(jīng)HRP®-260生產(chǎn)驗證的機械手臂。這種組合為半導(dǎo)體、化合物半導(dǎo)體和相關(guān)行業(yè)提供了一種擁有基于機械手臂系統(tǒng)的低成本解決方案。KLA Tencor® P-170 探針式輪廓儀支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量,掃描范圍可達200毫米且無需拼接。

通過結(jié)合UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描樣品臺,可實現(xiàn)出色的測量穩(wěn)定性。使用點擊式樣品臺控制、頂視和側(cè)視光學(xué)元件以及具有光學(xué)變焦功能的高分辨率相機,可快速輕松地設(shè)置程式。Tencor P-170支持2D或3D測量,可使用多種濾波、調(diào)平和分析算法來測量表面形貌。全自動測量是通過自動晶圓處理、圖形識別、排序和特征檢測實現(xiàn)的。

臺階高度:納米級到1000微米
恒定力控制:0.03至15mg
樣品的全直徑掃描,無需拼接
視頻:5MP高分辨率彩色相機
弧形校正:可消除探針的弧形運動引起的誤差
軟件:簡單易用的軟件界面
生產(chǎn)能力:全自動測量,具有測序、圖形識別和SECS/GEM功能
晶圓傳輸機械手臂:自動加載直徑為75毫米到200毫米的不透明(例如硅)和透明(例如藍寶石)樣品
臺階高度:2D和3D臺階高度
紋理:2D和3D粗糙度和波紋度
形狀:2D和3D翹曲、形狀
應(yīng)力:2D和3D薄膜應(yīng)力
缺陷檢測:2D和3D缺陷表面形貌
半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體
LED:發(fā)光二極管
MEMS:微機電系統(tǒng)
數(shù)據(jù)存儲
汽車
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