KLA 探針式表面輪廓儀 參考價(jià):面議
KLA 探針式表面輪廓儀采用光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測(cè)量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測(cè)量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測(cè)量,與材料特性無(wú)關(guān)。多種力度調(diào)...Film Sense 多波長(zhǎng)橢偏儀 參考價(jià):面議
Film Sense FS-8多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器,可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)可靠地薄膜測(cè)量。大多數(shù)厚度 0–1...HORIBA 激光粒徑分布分析儀 參考價(jià):面議
HORIBA 激光粒徑分布分析儀秉承HORIBA 一貫的設(shè)計(jì)傳統(tǒng),其直觀的軟件、附件和高效的性能,能解決廣泛的應(yīng)用問(wèn)題。Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià):面議
Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x借助光譜反射系統(tǒng),可以測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量,...Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x 參考價(jià):面議
Bowman XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x,Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測(cè)量系統(tǒng),具備12英寸×12英寸的測(cè)量區(qū)域,適用于多種樣品檢測(cè)。KLA 納米壓痕儀 參考價(jià):59
KLA 納米壓痕儀,KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測(cè)量硬涂層,薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等...3D白光干涉輪廓儀 參考價(jià):面議
3D白光干涉輪廓儀,KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。采用白...Filmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀 參考價(jià):面議
Filmetrics F20 白光干涉測(cè)厚儀儀是一款高精度、多功能的測(cè)量設(shè)備,能夠快速測(cè)定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過(guò)率等特性。其非接觸式測(cè)量方式適合各種脆...HORIBA 納米顆粒分析儀 參考價(jià):面議
HORIBA 納米顆粒分析儀一臺(tái)簡(jiǎn)潔小巧的裝置能同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)納米粒子三項(xiàng)參數(shù)的表征:粒徑、Zeta電位和分子量。納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過(guò)程,在分子和原子水...KLA 納米壓痕儀 參考價(jià):59
KLA納米壓痕儀,KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納...HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價(jià):面議
HORIBA 橢圓偏振光譜儀,HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測(cè)量工具。僅需簡(jiǎn)單的幾個(gè)按鈕,幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測(cè)量和分析,并提供完...Unicorn優(yōu)尼康 低頻主動(dòng)式消磁器 參考價(jià):面議
Unicorn優(yōu)尼康 低頻主動(dòng)式消磁器UNICORN α500 低頻消磁系統(tǒng)(EMICancelingSystem,又稱消磁器),DC與AC雙模式主動(dòng)消磁器,采...KLA 探針式臺(tái)階儀 參考價(jià):面議
KLA 探針式臺(tái)階儀,KLA P-7 探針式臺(tái)階儀是KLA公司的探針式臺(tái)階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之...KLA 白光共聚焦顯微鏡 參考價(jià):面議
KLA 白光共聚焦顯微鏡,KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術(shù)而來(lái)。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對(duì)大部分材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像分析,從光滑...KLA 表面光學(xué)輪廓儀 參考價(jià):面議
KLA 表面光學(xué)輪廓儀,KLA Zeta-388光學(xué)輪廓儀是非接觸式三維表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在Zeta-300光學(xué)輪廓儀的基礎(chǔ)上,增加了用于全自動(dòng)測(cè)量的機(jī)械...KLA光學(xué)輪廓儀 參考價(jià):面議
KLA光學(xué)輪廓儀KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技...Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià):面議
Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo),F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測(cè)量?jī)x只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡(jiǎn)單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM ...Filmetircs光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 參考價(jià):面議
Filmetircs光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測(cè)試系統(tǒng),如需了解更多 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀 F3-sX 信息,咨詢。Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀 參考價(jià):面議
Filmetrics 自動(dòng)測(cè)量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng),可以快速輕松地測(cè)量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)...KLA四探針電阻率測(cè)量?jī)x 參考價(jià):面議
KLA四探針電阻率測(cè)量?jī)x是KLA的電阻率測(cè)量產(chǎn)品。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品,薄膜電阻監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要。KLA R5...Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡 參考價(jià):面議
Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡由GETec與Nanosurf提供,讓您能輕松地聯(lián)合兩種功能強(qiáng)大的分析工具,原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子...Nanosurf 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡 參考價(jià):面議
Nanosurf Flex-ANA 自動(dòng)力譜成像原子力顯微鏡是基于原子力顯微鏡納米力學(xué)分析的自動(dòng)化解決方案。它旨在以直觀和自動(dòng)化的方式通過(guò)力譜和力圖研究多種或大...KLA 探針式表面輪廓儀 參考價(jià):面議
KLA D500 探針式表面輪廓儀的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率、較大的高度測(cè)量范圍和準(zhǔn)確的微力控制。探針的接觸式測(cè)量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是直接測(cè)量,與材料特性無(wú)關(guān)。多...KLA 探針式臺(tái)階儀 參考價(jià):面議
KLA P-17 探針式臺(tái)階儀是P系列探針式臺(tái)階儀的產(chǎn)品。該系統(tǒng)具備可編程掃描平臺(tái)、低噪聲電子分辨率,垂直范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率掃描,能夠覆蓋樣品表面整個(gè)區(qū)域。KL...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)