4D成像模塊 參考價(jià)：面議
4D成像模塊，將先進(jìn)的定量成像技術(shù)無縫整合到您的現(xiàn)有儀器中。它超越了傳統(tǒng)的三維空間成像，通過精準(zhǔn)捕捉并分析時(shí)間維度上的動態(tài)變化，為您提供樣本結(jié)構(gòu)、成分與演變的可...
參考光譜橢偏儀薄膜和表面的快速檢測 參考價(jià)：面議
RSE是一種特殊類型的橢偏儀，它通過將參比樣品和被測樣品進(jìn)行比較，測量它們之間的差異從而對被測樣品進(jìn)行橢偏分析。在測量過程中沒有任何需要轉(zhuǎn)動或者調(diào)制的光學(xué)部件，...
橢偏顯微鏡 參考價(jià)：面議
Accurion EP4 橢偏顯微鏡用途：多層薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)（n、k值）測量
德國Accurion 布魯斯特角顯微鏡 參考價(jià)：面議
德國Accurion 布魯斯特角顯微鏡是專為空氣/液體界面設(shè)計(jì)的布魯斯特角顯微鏡。它可以直接觀察朗繆爾單分子層或吸附薄膜。它同樣適用于玻璃、石英或類似材料等電介...
剛性柔性狹縫涂布機(jī) 參考價(jià)：面議
FOMvectorSC剛性柔性狹縫涂布機(jī)涂覆系統(tǒng)采用的非傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)理念，可實(shí)現(xiàn)剛性與柔性基底涂覆的便捷操控。通過集成工業(yè)級部件和用戶友好的配方功能，該系統(tǒng)為用戶...
柔性基材FOM狹縫涂布機(jī) 參考價(jià)：面議
FOM nanoRC柔性基材FOM狹縫涂布機(jī) 是開啟功能性薄膜與器件規(guī)模化涂覆的理想入門之選。該設(shè)備通過模擬大型卷對卷設(shè)備實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜涂覆工藝，僅需極低的成本投入...
兼容柔性及剛性基材的FOM狹縫涂布機(jī) 參考價(jià)：面議
FOM scalarSC 狹縫涂布機(jī)剛性柔性基材版本是開啟功能性薄膜與器件規(guī)?；扛惭芯康睦硐肴腴T解決方案。該設(shè)備專為便捷控制剛性/柔性基材涂覆工藝而設(shè)計(jì)，所需...
K9860全自動凱氏定氮儀 參考價(jià)：50000
K9860全自動凱氏定氮儀是基于經(jīng)典的凱氏定氮法而設(shè)計(jì)的全自動蒸餾、滴定測氮系統(tǒng)。全新9860具備的核心控制系統(tǒng)，以及自動化的整機(jī)與精益求精的零部件，造就了K9...
D200杜馬斯定氮儀 參考價(jià)：200000
D200杜馬斯定氮儀通過燃燒、凈化、還原、熱導(dǎo)檢測等步驟，進(jìn)行樣品中氮/蛋白質(zhì)的含量的檢測。無需樣品前處理，單個樣品分析時(shí)間僅4min，快速高效；反應(yīng)過程既不使...
CT3質(zhì)構(gòu)儀 參考價(jià)：面議
CT3質(zhì)構(gòu)儀源于數(shù)十年成功的物性研究經(jīng)驗(yàn)，并得益于廣大用戶質(zhì)構(gòu)應(yīng)用案例的鼎力反饋支持，是目前性價(jià)比高的質(zhì)構(gòu)分析專業(yè)儀器。擁有7種測試模式和眾多的測試夾具可供選擇...
CTX質(zhì)構(gòu)分析儀 參考價(jià)：面議
CTX質(zhì)構(gòu)分析儀是AMETEKBrookfield用于材料壓縮/拉伸測試的新一代*機(jī)型。對于需要保證質(zhì)量的同時(shí)又提高生產(chǎn)率的繁忙實(shí)驗(yàn)室，它將為快速、有效測試帶來...
碳硫分析儀 參考價(jià)：面議
碳硫分析儀rapid CS cube是專為煤、焦炭或生物質(zhì)中的碳硫快速自動分析而設(shè)計(jì)的。其出色的靈敏度（煤中的S低檢測限（LOD）可低至2ppm）使得它成為這一...
高溫裂解有機(jī)元素分析儀 參考價(jià)：1000000
高溫裂解有機(jī)元素分析儀完美的滿足您對高溫EA-IRMS分析的需求。輔以零空白的裂解反應(yīng)器和柱吹掃技術(shù)，使您在分析過程中無需擔(dān)心干擾氣體對分析結(jié)果的影響。vari...
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
準(zhǔn)確成像, 無交叉耦合現(xiàn)象 業(yè)界*的XYZ軸線性度，樣品和探針分別由獨(dú)立的柔性制導(dǎo)掃描器控制移動 Z低的平面偏移度，全程水平掃描時(shí)平面偏移量不超過1納米 垂直掃...
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
- 原子力顯微鏡（AFM）有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機(jī)器性能測量的能力。- 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM）。- 倒置光學(xué)顯微...
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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