10、 產(chǎn)品名稱： MicroCT3D空間分辨率測試卡

　　產(chǎn)品編號：20251231-10

　　產(chǎn)品質(zhì)保：12個(gè)月

　　產(chǎn)品簡介：可以按照客戶要求非標(biāo)定制，以下為產(chǎn)品的可供參考的：技術(shù)參數(shù)與應(yīng)用說明，僅供參考，更多：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司

　　MicroCT 3D空間分辨率測試卡是專為評估顯微CT（micro-CT）及納米CT（nano-CT）系統(tǒng)三維成像性能設(shè)計(jì)的核心工具。其主體由兩個(gè)正交安裝的3mm×3mm硅芯片構(gòu)成，芯片表面刻蝕有線寬/點(diǎn)徑為1μm至10μm（對應(yīng)分辨率10 lp/mm）的精密測試圖案，結(jié)構(gòu)深度控制在5-15μm，同時(shí)集成傾斜邊緣（L字形）與西門子星形（放射狀）輔助標(biāo)定結(jié)構(gòu)。該模體采用致密塑料柱狀支架封裝，直徑5.4mm，總高19.1mm，確保在小視場高分辨率掃描場景下的兼容性。在三維空間分辨率檢測中，該測試卡通過一次掃描即可同步獲取X/Y/Z軸向的成像性能數(shù)據(jù)，直接反映系統(tǒng)綜合分辨率極限。其多尺度線對與點(diǎn)陣布局可量化重建算法精度、機(jī)械穩(wěn)定性及焦點(diǎn)尺寸對三維成像的影響，克服了傳統(tǒng)二維投影測試的局限性1815。實(shí)際應(yīng)用中，搭配等顯微CT設(shè)備（像素尺寸2.8μm）時(shí)，能清晰解析芯片中心與邊緣區(qū)域的細(xì)節(jié)差異，適用于工業(yè)無損檢測（NDT）、生物樣本分析及材料科學(xué)研究中的設(shè)備校準(zhǔn)3713。經(jīng)實(shí)測驗(yàn)證，該模體可滿足1695-95標(biāo)準(zhǔn)對調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）的量化要求，并為對比度靈敏度測試提供基準(zhǔn)。參數(shù)簡表

　　硅芯片 尺寸3×3mm2，含1-10μm線/點(diǎn)圖案

　　結(jié)構(gòu)特征 傾斜邊緣(L)、深度5-15μm

　　支架 致密塑料，直徑5.4mm，高度19mm

　　適用系統(tǒng) micro-CT/nano-CT（如SkyScan系列）

　　數(shù)據(jù)驗(yàn)證：在實(shí)測中，該模體可實(shí)現(xiàn)2.8μm像素尺寸下的三維重建切片清晰成像，線對解析力達(dá)500 lp/mm13。

　　廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，竭誠為您服務(wù)，我司可以非標(biāo)訂制符合客戶個(gè)性化要求的產(chǎn)品和設(shè)備。

　　是否可以非標(biāo)訂制：可以按照客戶要求非標(biāo)定制： MicroCT3D空間分辨率測試卡

　　產(chǎn)品編號：20251231-10