HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)試系統(tǒng)

價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是一款簡(jiǎn)單易用的材料表征儀器，可以同時(shí)測(cè)定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率；軟件可自動(dòng)完成信號(hào)激勵(lì)、數(shù)據(jù)采集、實(shí)時(shí)處理及結(jié)果輸出全流程，并通過(guò)可視化界面直觀呈現(xiàn)測(cè)試成果，提升了操作便捷性與測(cè)試效率。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1.寬溫區(qū)覆蓋與高適應(yīng)性

支持 RT 至 1200℃ 寬溫度范圍，兼容低溫至高溫測(cè)試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求

提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，適配材料在不同反應(yīng)條件下的性能評(píng)估

2. 高穩(wěn)定性與長(zhǎng)周期測(cè)試能力

電源輸出 0～1A，具備長(zhǎng)期穩(wěn)定性，支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)采集

配備K/S/C型熱電偶，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制

產(chǎn)品參數(shù)

測(cè)量原理：塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法

樣品支架:三明治結(jié)構(gòu)夾于兩電極之間

樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm

樣品尺寸(圓盤狀):10、12.7、25.4 mm

可調(diào)探頭距離:4、6、8mm

塞貝克系數(shù)測(cè)量范圍:1~ 2500uV/K準(zhǔn)確度±7%;重復(fù)性±3%

電導(dǎo)率測(cè)量范圍:0.01~2*10⁵s/cm準(zhǔn)確度±5-8%;再現(xiàn)性±3%

電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)