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Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測...

非接觸式輪廓儀優(yōu)點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學輪廓儀集成了六種...

Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術的經(jīng)濟三維光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器...

Lumina AT1光學表面缺陷分析儀可對玻璃、半導體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料，又能對Si...

與X射線用氮化硅窗口類似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格...

公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術...

P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗證的HRP?-260的機械傳送臂相結合。 這樣的組合為...

P-7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D...

高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）采用*制造工藝，可把平面納米壓印拓展到任意曲面。標準模板分為三類：Qua...

SHNTI的X-射線薄膜窗能夠實現(xiàn)軟X-射線(如真空紫外線)的Z大透射率。主要用于同步輻射X射線透射顯微成像時承載樣品。 X-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差...

納米壓印的技術與工藝特點，*性地設計和制備工作于低真空環(huán)境下，結合正負壓可控調節(jié)并利用壓縮空氣作為壓印驅動力的，通過壓力傳導裝置、緩沖與勻壓、壓力調節(jié)控制裝置等...

俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力驅近系統(tǒng)的機械設計可使得經(jīng)過幾次驅近之后仍然能獲得相同的檢測區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個特點可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠...