混凝土掃描儀 參考價(jià)：面議
這款混凝土掃描儀是專業(yè)為鋼筋混凝土掃描設(shè)計(jì)混凝土鋼筋掃描儀,能夠掃描處混凝土內(nèi)的鋼筋,管線和空隙,查找鋼筋和管道走向,避免施工切割到鋼筋和管線。
激光多普勒測(cè)振儀 參考價(jià)：面議
激光多普勒測(cè)振儀是為非接觸式振動(dòng)測(cè)量設(shè)計(jì)的激光測(cè)振儀器,可非接觸式測(cè)量任何表面的振動(dòng),采用激光束準(zhǔn)直對(duì)準(zhǔn)待測(cè)振動(dòng)平面,遠(yuǎn)測(cè)量距離高達(dá)5米,不需要任何光學(xué)和機(jī)械調(diào)...
高分辨率掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競(jìng)爭(zhēng)力的掃描電鏡價(jià)格,廣泛用于科研單位使用。
KPFM開爾文探針力顯微鏡 參考價(jià)：面議
這款KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy)可以訪問從50mm到350mm的樣品...
掃描開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
大面積掃描開爾文探針系統(tǒng)能夠在垂直方向移動(dòng)開爾文探針實(shí)現(xiàn)電動(dòng)控制開爾文探針與樣品的距離。 樣品安裝到真空吸盤上，真空吸盤可帶著樣品移動(dòng)150x150mm位移，從...
高壓濺射PVD系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高壓濺射PVD系統(tǒng)是為晶圓濺射金屬膜,磁性材料,多組分氧化物應(yīng)用設(shè)計(jì)的高壓物理氣相沉積系統(tǒng),得益于它靈活的配置和*殊的晶圓加熱器設(shè)計(jì),PVD可以在溫度***高9...
臺(tái)式薄膜沉積系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
臺(tái)式薄膜沉積系統(tǒng)為是模塊化的PVD系統(tǒng),為您的研究和實(shí)施應(yīng)用提供了多種沉積選項(xiàng)。可裝配電子束蒸發(fā)源E-beam,ORCA低溫蒸發(fā)源,熱蒸發(fā)源,磁控濺射等。
衰變熒光壽命測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
衰變熒光壽命測(cè)量系統(tǒng)ChronosDFD是自動(dòng)熒光壽命測(cè)試儀器,能夠測(cè)量絡(luò)合物的熒光和旋轉(zhuǎn)相關(guān)時(shí)間,熒光混合物在1秒內(nèi)準(zhǔn)確度為皮秒?？捎糜诳焖贉y(cè)量動(dòng)力學(xué)過程；停...
晶圓熱退火爐 參考價(jià)：面議
這款晶圓熱退火爐是半導(dǎo)體晶片惰性氣氛快速熱退火系統(tǒng),適合晶圓的最大直徑為100mm,晶圓通過上部快速檢修門手動(dòng)裝入腔室，并放置在熱補(bǔ)償石墨臺(tái)上。加熱器系統(tǒng)基于線...
光纖端面幾何測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光纖端面幾何測(cè)量?jī)xFiBO?300是一種多功能phase-shifting相移干涉儀，用于對(duì)裸光纖和非標(biāo)準(zhǔn)光纖連接器的光纖端面幾何結(jié)構(gòu)測(cè)量分析?？勺児鈱W(xué)變焦具有...
模場(chǎng)直徑有效面積測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
模場(chǎng)直徑有效面積測(cè)量系統(tǒng)是pe.fiberoptics公司光纖模場(chǎng)直徑測(cè)試和光纖有效面積分析測(cè)量設(shè)計(jì)的MFD和Aeff測(cè)試儀器。
開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
開爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學(xué)中,精確測(cè)量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉(zhuǎn)移和功函數(shù)變化中起著重要作用。
光纖光譜衰減測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光纖光譜衰減測(cè)量?jī)xSA500HD是為光纖衰減測(cè)量設(shè)計(jì)的光纖衰減測(cè)試儀器,利用DSP和固態(tài)單色儀技術(shù)測(cè)量光纖光譜損耗對(duì)波長(zhǎng)的變化。高動(dòng)態(tài)范圍允許測(cè)試現(xiàn)在在中發(fā)現(xiàn)的...
超高真空超低溫四探針 參考價(jià)：面議
超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計(jì)的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術(shù)
超高真空開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測(cè)量。每個(gè)系統(tǒng)都配有高質(zhì)量的手動(dòng)或電動(dòng)轉(zhuǎn)換器，可實(shí)現(xiàn)可靠和準(zhǔn)確的針尖到樣品定位，跟蹤...
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
我們的單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號(hào)檢測(cè)方法對(duì)材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級(jí)進(jìn)行非常高質(zhì)量的測(cè)量。
玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款玻璃翹曲度測(cè)量?jī)x是大尺寸玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x和玻璃彎曲度測(cè)試儀,廣泛用于翹曲度測(cè)量,彎曲度測(cè)量,表面形貌測(cè)量和鍍膜測(cè)量等。,玻璃彎曲度測(cè)量?jī)x,玻璃彎曲度測(cè)試儀由...
寬帶光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n...
雙面探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
雙面探針臺(tái)GTL5050旨在解決電路板PCBA雙面探測(cè)的困難任務(wù)。而不是試圖用垂直安裝的板進(jìn)行探測(cè)
大面積探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
大面積探針臺(tái)GTL4060是為較大面積PCBA探針分析測(cè)試設(shè)計(jì)的大面積探針平臺(tái),具有更大的測(cè)試平臺(tái)，以容納中大型測(cè)試板，但仍然能夠在較小的板、插座、連接器和子組...
非接觸式探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款非接觸式探針臺(tái)是為高頻電子設(shè)備、IC和材料測(cè)試/表征設(shè)計(jì)的非接觸式探針測(cè)試分析系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了整個(gè)毫米波和太赫茲波段電子設(shè)備和IC的自動(dòng)S參數(shù)表征。測(cè)量范圍為5...
晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance 參考價(jià)：面議
晶圓電阻率測(cè)試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測(cè)量晶圓電阻率,測(cè)量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測(cè)...
硅片TTV厚度測(cè)試儀,測(cè)量硅片厚度 參考價(jià)：面議
該硅片TTV厚度測(cè)試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測(cè)量?jī)x，能夠精確測(cè)量硅片厚度和測(cè)量TTV總厚度變化，也能實(shí)時(shí)測(cè)量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測(cè)試...
四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì) 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率電導(dǎo)率計(jì)可快速測(cè)量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測(cè)量。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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