磁控濺射系統(tǒng) 參考價：面議
磁控濺射系統(tǒng)MagSput™是下一代磁控濺射沉積系統(tǒng)，實用性腔,可擴展性高,且高度可靠,feichang適合磁控濺射鍍膜科學(xué)研究。
光纖色散測試儀 參考價：面議
光纖色散測試儀CD500是為光纖色散測量設(shè)計的色散測量系統(tǒng),具有測量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產(chǎn)檢測。
單點硅片測厚儀 參考價：面議
單點硅片測厚儀MX30是采用單點測厚技術(shù)為硅晶圓厚度測量設(shè)計的硅晶圓測厚儀器。適合手動測量單點的晶圓厚度。
進口光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
薄膜測厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物...
鏡片透光率測試儀 參考價：面議
鏡片透光率測試儀是一款眼鏡鏡片透光率測量儀器,廣泛用于薄膜透光率測試,比如LED擴散板透光率測試,鏡頭透光率測試,玻璃透過率測試,隔熱紙材料透過率測試。
薄膜厚度繪圖儀 參考價：面議
薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
便攜式薄膜測厚儀 參考價：面議
這款便攜式薄膜測厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
diamond光對稱測量儀 參考價：面議
diamond光對稱測量儀有效地測量光通過切割diamond時的質(zhì)量,光對稱性通過檢驗就diamond切割而言,看到光和感知光的效率成為衡量diamond質(zhì)量的...
微型雙晶片變形反射鏡 參考價：面議
微型雙晶片變形反射鏡是特別為激光光束像差控制設(shè)計的Bimorph Mirrors。制造這種小型雙晶片變形反射鏡有兩種辦法,一種是使用幾個壓電片，第二種方法是在相...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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