DENSOKU電測(cè)膜厚計(jì)高靈敏度輕量化設(shè)計(jì)

DENSOKU電測(cè)膜厚計(jì)高靈敏度輕量化設(shè)計(jì)

自1952年成立以來(lái)，DENSOKU通過(guò)廣泛的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備陣容，為日本表面處理行業(yè)做出了貢獻(xiàn)，包括作為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量?jī)x器的薄膜厚度計(jì)，這些測(cè)量?jī)x器在通產(chǎn)省的JIS標(biāo)準(zhǔn)制定中作為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量?jī)x器，并在行業(yè)中開(kāi)發(fā)電解薄膜厚度計(jì)。我們的目標(biāo)是建立一個(gè)能夠?yàn)樯鐣?huì)做出貢獻(xiàn)的公司，并創(chuàng)造人類。我們不斷努力提高自己的能力和人性，為員工創(chuàng)造幸福和公司發(fā)展。以更高的技術(shù)為目標(biāo)，提供更上等的產(chǎn)品，為“客戶滿意度"服務(wù)。建立客戶和業(yè)務(wù)合作伙伴信任的公司，并持續(xù)盈利。

DENSOKU/電測(cè)的產(chǎn)品分類：
1、多點(diǎn)同步測(cè)量渦流膜厚計(jì)
2、熒光X射線膜厚度計(jì)
3、電解膜厚度計(jì)
4、渦流膜厚度計(jì)
5、電阻式膜厚計(jì)
6、便攜式薄膜厚度計(jì)

日本電測(cè)DENSOKU熒光X射線鍍膜測(cè)厚儀EX-851多校準(zhǔn)曲線
日本DENSOKU熒光涂層測(cè)厚儀EX-731自動(dòng)測(cè)量臺(tái)
日本電測(cè)DENSOKU熒光X射線式膜厚計(jì)COSMOS-3X
日本電測(cè)DENSOKU電解膜測(cè)厚儀 GCT-311全功能PC規(guī)范
DENSOKU電測(cè)進(jìn)口電解膜測(cè)厚儀CT-6提高電流精度
日本電測(cè)儀器densoku電解式膜厚計(jì)/厚度儀/測(cè)量裝置CT-3
DENSOKU電測(cè)渦流測(cè)厚儀DMC-211配備自動(dòng)拍攝模式
日本DENSOKU電測(cè)渦流測(cè)厚儀高精度晶體振蕩系統(tǒng)DS-110
電測(cè)DENSOKU電阻式涂層測(cè)厚儀0.7 秒內(nèi)測(cè)量RST-231
電測(cè)DENSOKU便攜式涂層測(cè)厚儀QNIx系列無(wú)需薄膜校準(zhǔn)

產(chǎn)品特點(diǎn)

高精度測(cè)量：采用高精度恒流源，確保測(cè)量精度可達(dá)±1%，分辨率高達(dá)0.001μm。

多層鍍層分析：支持*多5層鍍層的測(cè)量條件設(shè)定，包括多層鎳鍍層的電位差分析。

智能化操作：在微軟視窗下作業(yè)，數(shù)據(jù)處理及機(jī)能性更加多樣。軟件具有電位圖顯示功能，可設(shè)定上下限值，超差時(shí)紅色警示并伴有蜂鳴報(bào)警。

數(shù)據(jù)處理與管理：可對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，包括平均值、標(biāo)準(zhǔn)差等，并可導(dǎo)出或打印數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行質(zhì)量控制和報(bào)告生成。

非破壞式校準(zhǔn)：具備非破壞式校準(zhǔn)功能，可制作標(biāo)準(zhǔn)板用于校準(zhǔn)其他測(cè)厚儀，確保測(cè)量精度的長(zhǎng)期穩(wěn)定。

適應(yīng)性強(qiáng)：適用于多種金屬基材（如銅、鋁、鋼等）及鍍層（如金、銀、鎳、鉻等），并能自動(dòng)識(shí)別適用的電解液類型。

應(yīng)用場(chǎng)景

廣泛應(yīng)用于電鍍、陽(yáng)極氧化、表面處理等行業(yè)的質(zhì)量控制及實(shí)驗(yàn)室分析。它適用于多種行業(yè)，如電子元器件、五金件與緊固件、汽車零部件、珠寶與裝飾品等。

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍：0.006~300μm

*小分解能：0.001μm

本體精度：±1%

測(cè)量單位：μm, mm, mil, MI

測(cè)量面積：

A型測(cè)頭：3.4mmΦ

B型測(cè)頭：2.5mmΦ

C型測(cè)頭：1.8mmΦ

電源：AC100V

本體尺寸：W265×D215×H138mm

重量：4.5kg