日本DENSOKU電測膜厚儀作為電解式測厚技術的代表產品，

其核心優(yōu)勢在于高精度測量、多層鍍層分析能力及工業(yè)場景適配性。

DENSOKU電測膜測厚儀提高電流精度 

一、旗艦機型GCT-311

• ?核心技術?：采用±0.1%穩(wěn)定性的高精度恒流源，支持四層鍍層（含擴散層）逐層分析，分辨率達0.001μm（1nm）?。

• ?特殊功能?：具備非破壞式校準功能，可制作標準板用于校準其他測厚儀，并支持航空航天多層鎳鍍層的電位差分析（STEP測試）?。

• ?測量范圍?：0.006–300μm，適用于科研級復雜鍍層體系檢測?。

二、工業(yè)優(yōu)化機型CT-6

• ?快速檢測?：通過快速電解算法將單次測量時間壓縮至30秒內，適配半導體薄膜（如SiO?、Si?N?）的特殊電解液?。

• ?功能平衡?：精度保持±1%，支持兩層鍍層測量，專為產線快速檢測設計?。

• ?擴展能力?：配備線材測量臺，可檢測圓形、棒形等異形工件鍍層?。

三、經濟實用機型CT-3

• ?基礎性能?：保留0.001μm分辨率和±1%精度，采用機械式刻度盤調節(jié)，操作簡單直接?。

• ?環(huán)境適應性?：IP54防塵等級，支持三層鍍層（含擴散層）測量，擅長超薄層（<1μm）與厚鍍層（≤300μm）檢測?。

• ?配件兼容?：標配三種墊片（3.4φ/2.5φ/1.8φ），覆蓋多樣化測量需求?。

四、進階機型CT-4

• ?多層分析?：*多可設置5層測量條件，支持純錫層與合金錫層的分別檢測?。

• ?智能交互?：配備大屏幕顯示及自動電解液類型識別功能，內置五種統計處理方法?。

• ?測量范圍?：0.006–300μm，電解速率分三檔（0.125μm/s至0.00125μm/s）以適應不同精度需求?。

DENSOKU電測膜測厚儀提高電流精度 

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