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otsuka大塚電子 高速減速測量裝置 RE-200RE-200是什么？RE-200 將由光子晶體元件（偏振元件）和 CCD 相機(jī)組成的偏振測量模塊與透射式偏振...

otsuka大塚電子 LE -5400 高速光譜分析儀該設(shè)備可通過與生產(chǎn)線控制信號同步，高速在線評估LED的光學(xué)特性。LE-5400提供質(zhì)量控制所需的光學(xué)特性信...

otsuka大塚電子 QE-2100 量子效率測量器 可即時測量絕對量子效率（絕對量子產(chǎn)率）。兼容粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品。低雜散光多通道光譜檢測器顯...

otsuka大塚電子 IL100 光譜輻照度測量器IL100光譜輻照度測量系統(tǒng)用于評估光源的輻照度。它通過光譜輻照度測量實(shí)現(xiàn)高精度輻照度測量，測量波長范圍寬廣，...

otsuka大塚電子 FE-5000 多功能光譜橢偏儀除了能夠進(jìn)行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之外，該系統(tǒng)還配備了自動可變測量角度機(jī)構(gòu)，使其適用于所有類型的薄膜。...

otsuka大塚電子 RETS-100nx 延遲測量裝置這款延遲測量裝置兼容所有類型的薄膜，包括OLED偏光片、層壓相位差膜以及帶有IPS LCD相位差膜的偏光...

otsuka大塚電子 OPTM-A3 顯微薄膜厚度計(jì)OP?（Optimum）是一款利用顯微光譜技術(shù)測量微觀區(qū)域絕對反射率的儀器，能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...

otsuka大塚電子 OPTM-A2 顯微薄膜厚度計(jì)OP?（Optimum）是一款利用顯微光譜技術(shù)測量微觀區(qū)域絕對反射率的儀器，能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...

otsuka大塚電子 OPTM-A1 顯微薄膜厚度計(jì)OP?（Optimum）是一款利用顯微光譜技術(shù)測量微觀區(qū)域絕對反射率的儀器，能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...

otsuka大塚電子 MINUK 3D 光波場三維顯微鏡特征02可采集1400微米深度范圍內(nèi)的所有信息，并可沿任意高度進(jìn)行切片。單次測量即可獲取相當(dāng)于數(shù)千張圖像...

otsuka大塚電子 GP-2000 光譜光分布器支持有機(jī)發(fā)光二極管和大型顯示器的光分布測量通過自動控制雙軸測角儀，可以測量每個角度的光譜分布，并利用球面系數(shù)法...

otsuka大塚電子 GP-1100 光譜光分布設(shè)備 這是一個用于測量照明燈具光分布特性的設(shè)備。?采用自主研發(fā)的光譜儀，可實(shí)現(xiàn)高精度測量！?可同時進(jìn)行顏色測量和...

otsuka大塚電子 光譜光分布測量器 GP-500這是一個用于測量照明燈具光分布特性的設(shè)備。?采用自主研發(fā)的光譜儀，可實(shí)現(xiàn)高精度測量！?可同時進(jìn)行顏色測量和光...

otsuka大塚電子 SM-100S 智能涂層測厚儀　高精度便攜式薄膜測厚儀“我想測的時候不能立即測量"、 您在測量薄膜厚度時是否遇到過這些問題？這款智能薄膜測...

otsuka大塚電子 SM-100P 智能涂層測厚儀　測量目標(biāo)　?光學(xué)薄膜　?涂層薄膜 （防反射薄膜、粘合層等）　?半導(dǎo)體（氧化膜、光刻膠膜等）　?各種薄膜 （...

otsuka大塚電子 FE-300F 薄膜厚度監(jiān)測儀這是一款小巧、低成本的薄膜厚度計(jì)，采用光學(xué)干涉法測量薄膜厚度，精度高，操作簡便。一體式外殼將所有必要的組件集...

otsuka大塚電子 MCPD-6800 多通道光譜儀MCPD-6800 是一款基礎(chǔ)光譜測量與分析系統(tǒng)。它能夠即時測量光譜，其可自由配置的測量光學(xué)系統(tǒng)和豐富的選...

otsuka大塚電子 MCPD-9800 多通道光譜儀這是一款多功能多通道光譜檢測器，覆蓋紫外到近紅外波段。它可在短短 5 毫秒內(nèi)完成光譜測量。

otsuka大塚電子 SF-3/1300 高速光譜測厚儀該設(shè)備可在研磨和拋光過程中以超高速、實(shí)時、高精度非接觸式測量晶圓和樹脂。

otsuka大塚電子 SF-3/800 超高速光譜干涉式該設(shè)備可在研磨和拋光過程中以超高速、實(shí)時、高精度非接觸式測量晶圓和樹脂。