儀景通EVIDENT超聲波測(cè)厚儀45MG

用于精確測(cè)厚有以下

塑料制品和容器
配有單晶軟件的45MG測(cè)厚儀可以通過(guò)無(wú)損方式測(cè)量塑料制品和容器的壁厚，完成多種制造業(yè)中的關(guān)鍵檢測(cè)應(yīng)用。例如，如果材料太薄，則可能無(wú)法使用。如果材料太厚，制造商可能會(huì)為多余的樹(shù)脂浪費(fèi)資金。對(duì)每個(gè)產(chǎn)品的測(cè)量?jī)H需幾秒鐘時(shí)間，可將測(cè)量值記錄在測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)記錄器中，以進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和文檔制作。

鑄鐵中的球化率/彈性模量
要以無(wú)損方式快速評(píng)估鑄鐵件（將碳、硅和其他添加劑混合到鐵水中制成），方法就是超聲檢測(cè)。配有單晶軟件的45MG測(cè)厚儀可以基于輸入的厚度值，直接在屏幕上顯示鑄鐵或其他材料的聲速讀數(shù)。

此外，基于45MG測(cè)厚儀所測(cè)量的聲速和材料密度而計(jì)算的楊氏模量和剪切彈性模量，以及泊松比，可以確定材料是否具有均質(zhì)性、各向同性，或非分散性?？蓽y(cè)量的材料包括普通金屬、工業(yè)陶瓷和硬塑料，如聚苯乙烯和丙烯酸。

槍鉆
槍鉆是一種沿著外徑已知的實(shí)心桿或?qū)嵭陌舻闹行妮S鉆孔的過(guò)程。在槍鉆過(guò)程中，對(duì)鉆孔位置進(jìn)行監(jiān)測(cè)以確保未有偏移，至關(guān)重要。

45MG儀器（配有單晶軟件）可以測(cè)量并提供所需的壁厚信息，有助于確保槍鉆孔符合同心度規(guī)格。

氣缸內(nèi)腔的測(cè)量
配有單晶軟件的45MG儀器可以測(cè)量汽車(chē)和內(nèi)燃機(jī)的鑄件和氣缸內(nèi)腔的壁厚和尺寸。

陶瓷和玻璃
配有單晶軟件的45MG儀器非常適合于對(duì)商用玻璃產(chǎn)品進(jìn)行精確的壁厚測(cè)量。可測(cè)量的產(chǎn)品包括瓶子、容器、燈泡和科研用玻璃器皿，以及大多數(shù)結(jié)構(gòu)和電子陶瓷部件（包括涂層和基材）。

絕緣體上的有機(jī)硅涂層
配有單晶軟件的45MG便攜式測(cè)厚儀可以無(wú)損方式測(cè)量高壓絕緣子上有機(jī)硅涂層的厚度。

玻璃纖維/復(fù)合材料和凝膠涂層
配有單晶軟件的45MG儀器可以無(wú)損方式對(duì)玻璃纖維增強(qiáng)塑料（FRP）、凝膠涂層和總壁厚（凝膠涂層和玻璃纖維）進(jìn)行數(shù)字式厚度測(cè)量，以確保這些材料達(dá)到最小厚度規(guī)范的要求。

飛機(jī)的窗戶(hù)和復(fù)合材料
配有單晶軟件的45MG測(cè)厚儀可以測(cè)量飛機(jī)窗戶(hù)和復(fù)合材料的厚度，并檢測(cè)材料的分層情況，在飛機(jī)質(zhì)量控制中起著舉足輕重的作用。

金屬卷材、管道和管材
配有單晶軟件的45MG測(cè)厚儀可用于檢測(cè)金屬卷材、管道和管材是否符合厚度規(guī)格。測(cè)量從材料暴露在外的一側(cè)進(jìn)行，可以對(duì)材料整個(gè)寬度上的厚度進(jìn)行監(jiān)測(cè)。

小直徑管
45MG測(cè)厚儀（使用45MG-SE單晶軟件選項(xiàng)和45MG-WF波形軟件選項(xiàng)）可以測(cè)量在一系列工業(yè)和醫(yī)療應(yīng)用中使用的小直徑管。

橡膠傳送帶、軟管和管子
配有單晶軟件的45MG測(cè)厚儀可以測(cè)量傳送帶的總厚度、織物的深度、橡膠輸送帶中鋼簾加固層的厚度，以及橡膠管或軟管的壁厚，在質(zhì)量控制過(guò)程中起著舉足輕重的作用。

渦輪葉片
精密測(cè)厚儀通常用于渦輪葉片的測(cè)量。飛機(jī)引擎的空心渦輪葉片的壁厚可以使用小型聚焦探頭測(cè)量，不僅可在制造過(guò)程中探測(cè)到芯偏移，還可以在使用過(guò)程中探測(cè)到磨損情況。

Sonopen探頭
奧林巴斯的Sonopen探頭是一種形狀像鉛筆的單晶探頭，其內(nèi)部有一個(gè)一端非常細(xì)小的聚焦延遲塊。Sonopen獨(dú)特的形狀為許多具有挑戰(zhàn)性的測(cè)厚應(yīng)用提供了可靠的測(cè)量解決方案，例如對(duì)凹陷曲面、細(xì)絲和絕緣護(hù)套的測(cè)量。

儀景通EVIDENT超聲波測(cè)厚儀45MG

用于腐蝕檢測(cè)

帶漆層的管道和儲(chǔ)罐
45MG超聲測(cè)厚儀可以透過(guò)漆層或類(lèi)似的涂層準(zhǔn)確測(cè)量金屬管道和儲(chǔ)罐的剩余壁厚。這款測(cè)厚儀采用回波到回波（Echo-to-Echo）和穿透涂層（THRU-COAT）測(cè)量技術(shù)，并使用奧林巴斯的雙晶探頭，可以通過(guò)從測(cè)量值中去除漆層厚度的辦法以無(wú)損方式計(jì)算出金屬內(nèi)壁的厚度。

高溫金屬
配有單晶軟件的45MG UT測(cè)厚儀可以對(duì)溫度高達(dá)500 °C的工件進(jìn)行高溫厚度測(cè)量。因此，無(wú)需耗資不菲的停機(jī)，就可以完成在役設(shè)備的常規(guī)測(cè)試和檢測(cè)。