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日本atomax半導(dǎo)體晶圓精密清洗二流體噴嘴AM系列噴嘴（AM6/AM12/AM25/AM45）：能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)...
日本atomax電子元件精密涂布二流體噴嘴AM系列噴嘴（AM6/AM12/AM25/AM45）：能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)療...
日本atomax 精密噴涂5μm超細(xì)霧化噴嘴AM系列噴嘴（AM6/AM12/AM25/AM45）：能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)...
日本atomax全自動剝離機(jī)用超細(xì)二流體噴嘴AM系列噴嘴（AM6/AM12/AM25/AM45）：能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)...
日本atomax汽車精密零件涂布二流體噴嘴AM系列噴嘴（AM6/AM12/AM25/AM45）：能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)療...
日本atomax電子基板精細(xì)涂布二流體噴嘴能夠產(chǎn)生平均粒徑約5μm的超微粒子。適用于表面薄膜涂層、科學(xué)醫(yī)療領(lǐng)域中的極少量噴霧、室內(nèi)及設(shè)施的殺菌消毒等。AM6和A...
日本otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中)...
otsuka大塚透明電極材料膜厚儀涂層測厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備，適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括：高精度測...
日本otsuka大塚DLC涂層厚度測量儀膜厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備，適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括：高精度...
日本otsuka大塚FPD彩色濾光片薄膜測厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備，適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括：高精度...
日本otsuka大塚非接觸式顯微分光膜厚儀顯微分光膜厚儀 OPTM series 是一種高精度的膜厚測量設(shè)備，適用于各種材料和應(yīng)用場景。它的特點包括：高精度測量...
日本otsuka大塚手持式金屬鍍層膜厚儀特點：手持式，便于攜帶至現(xiàn)場測量精度達(dá)到0.1μm單位適用于具有形狀的樣品，可進(jìn)行非破壞性測量可測量不同基材材質(zhì)上的鍍膜
日本otsuka大塚非破壞性基材鍍層測厚儀特點：手持式，便于攜帶至現(xiàn)場測量精度達(dá)到0.1μm單位適用于具有形狀的樣品，可進(jìn)行非破壞性測量可測量不同基材材質(zhì)上的鍍...
日本densoku電測小型熒光X射線式膜厚計采用雙層過濾器除數(shù)字濾波器外，還采用了Co和Ni兩種機(jī)械濾波器，因此即使面對原子序數(shù)相鄰的基材與鍍層組合（如銅基材上...
日本densoku電測絕緣物金屬薄膜測厚儀可快速測量絕緣物上的金屬薄膜（印刷電路板的銅箔、電鍍層等），雙面板和多層板的背面或內(nèi)層也不受影響?？蛇x擇兩種測量范圍，...
日本densoku電測渦電流式金屬涂層測厚儀測量基材與涂層間導(dǎo)電率差異較大的材料，如非磁性金屬（鋁、銅、黃銅）上的非導(dǎo)電涂層、鋼材上的各種電鍍層，以及非金屬基材...
日本densoku電測無損鋅鉻金屬電鍍層測厚儀測量基材與涂層間導(dǎo)電率差異較大的材料，如非磁性金屬（鋁、銅、黃銅）上的非導(dǎo)電涂層、鋼材上的各種電鍍層，以及非金屬基...
日本densoku電測渦電流式涂層鍍層膜厚儀測量基材與涂層間導(dǎo)電率差異較大的材料，如非磁性金屬（鋁、銅、黃銅）上的非導(dǎo)電涂層、鋼材上的各種電鍍層，以及非金屬基材...
日本densoku電測鍍銀銅 鍍錫銅鍍層測厚儀可記錄最多50個測量通道?？梢栽O(shè)置最多5層的多層皮膜的測定條件?？梢允褂秒p脈沖和電位差測定來測量比較電極（歐普申）...
日本densoku電測鉻鎳銅錫等鍍層測厚儀可記錄最多50個測量通道?？梢栽O(shè)置最多5層的多層皮膜的測定條件?？梢允褂秒p脈沖和電位差測定來測量比較電極（歐普申）和電...
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