目錄:北京儀光科技有限公司>>三維光學(xué)輪廓儀>>BRUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀>> ContourX-200BEUKER三維光學(xué)輪廓儀實(shí)驗(yàn)室實(shí)用之選
| 參考價(jià) | ¥ 900000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
| ¥900000 |
| ≥1件 |
更新時(shí)間:2026-01-05 10:59:11瀏覽次數(shù):355評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,綜合 |
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BEUKER三維光學(xué)輪廓儀實(shí)驗(yàn)室實(shí)用之選
參數(shù)項(xiàng) | 具體數(shù)值 |
橫向分辨率 | 最高可達(dá) 0.5μm |
縱向分辨率 | 低至 1nm |
縱向測(cè)量范圍 | 1nm-5mm |
樣品臺(tái)尺寸 | 100mm×100mm |
樣品臺(tái)調(diào)節(jié)方式 | 手動(dòng)平移(X/Y 軸) |
掃描速度 | 0.5-5mm/s(可調(diào)) |
數(shù)據(jù)接口 | USB 2.0 |
設(shè)備重量 | 12kg |
工作溫度 | 18-28℃ |
相對(duì)濕度 | 30%-60%(無冷凝) |
BEUKER三維光學(xué)輪廓儀實(shí)驗(yàn)室實(shí)用之選
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