微機(jī)電系統(tǒng)器件結(jié)構(gòu)微小、工藝復(fù)雜,其機(jī)械結(jié)構(gòu)的尺寸、形貌、運(yùn)動(dòng)特性直接決定器件性能。由于MEMS結(jié)構(gòu)的脆弱性和尺寸微小,非接觸、高分辨率的測(cè)量技術(shù)顯得適用。白光干涉儀,特別是結(jié)合了相移干涉技術(shù)的系統(tǒng),在MEMS的研發(fā)、工藝監(jiān)控與失效分析中是一種常用工具。Sensofar S neox系統(tǒng)在此領(lǐng)域的應(yīng)用,為靜態(tài)形貌與動(dòng)態(tài)運(yùn)動(dòng)測(cè)量提供了方案。
在MEMS技術(shù)向更小尺寸、更復(fù)雜集成發(fā)展的過程中,工藝容差不斷縮小,對(duì)計(jì)量技術(shù)提出了要求。Sensofar S neox這類多功能光學(xué)輪廓儀提供的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)三維形貌測(cè)量能力,為MEMS器件的設(shè)計(jì)驗(yàn)證、工藝開發(fā)與質(zhì)量控制環(huán)節(jié)提供了重要的測(cè)量支持。