地質(zhì)與礦物學(xué)研究涉及對巖石、礦物、化石等樣品表面形貌的觀察與分析，以獲取其成因、演化、物理性質(zhì)等信息。傳統(tǒng)的地質(zhì)顯微鏡和掃描電鏡是主要工具，而白光干涉儀作為一種非破壞性的三維表面形貌量化工具，能夠提供不同于二維圖像的高度信息，在地質(zhì)學(xué)的一些特定研究方向上提供了一種補(bǔ)充手段。Sensofar S neox系統(tǒng)，特別是其便攜式或可靈活配置的型號，為實(shí)驗(yàn)室甚至部分野外場景下的地質(zhì)樣品表面分析提供了新選項(xiàng)。
在礦物學(xué)研究中，礦物的解理、斷口、晶面生長紋、蝕變痕跡等表面特征包含了其形成環(huán)境和物理性質(zhì)的信息。白光干涉儀可以對礦物晶體表面或斷口進(jìn)行三維形貌掃描，定量測量晶面夾角、解理面的臺階高度、斷口的粗糙度等。例如，定量測量石英或方解石晶體不同晶面的生長臺階高度，可以反推晶體生長條件。測量斷口的粗糙度參數(shù)，可以與礦物的脆性、韌性等力學(xué)性質(zhì)建立關(guān)聯(lián)。
在沉積學(xué)研究中，沉積顆粒（如石英砂、碳酸鹽顆粒）的表面紋理（如磨圓度、表面毛玻璃化、撞擊坑、解理面等）是判斷其搬運(yùn)歷史、沉積環(huán)境的重要依據(jù)。白光干涉儀可以對單個砂粒進(jìn)行高分辨率三維成像，量化其表面紋理特征，相比傳統(tǒng)的二維顯微圖像，能提供更豐富的三維形態(tài)信息，有助于更精確地進(jìn)行顆粒形態(tài)分類和成因分析。
在構(gòu)造地質(zhì)學(xué)中，斷層巖或摩擦滑動實(shí)驗(yàn)產(chǎn)生的摩擦鏡面、擦痕、階步等顯微構(gòu)造特征，是反演古地震應(yīng)力狀態(tài)和滑動機(jī)制的關(guān)鍵。白光干涉儀可以對這些特征進(jìn)行三維形貌測量，精確測量擦痕的深度、寬度、方向，以及階步的高度，為定量化研究提供數(shù)據(jù)。對斷層泥中顆粒的表面形態(tài)分析，也有助于理解斷層帶的摩擦滑動行為。
在化石研究中，特別是微體化石或遺跡化石，其表面細(xì)微的形態(tài)特征具有重要的分類學(xué)和古環(huán)境意義。白光干涉儀可以對化石表面進(jìn)行非破壞性三維成像，獲取高精度的三維模型，用于形態(tài)測量分析、三維重建和數(shù)字化存檔。對于化石上的生長紋、損傷痕跡等，也可以進(jìn)行定量研究。
在油氣地質(zhì)和工程地質(zhì)中，巖石孔隙結(jié)構(gòu)（尤其是表面孔隙和微裂縫）對儲層物性和巖石強(qiáng)度有重要影響。白光干涉儀可以對巖石拋光面或新鮮斷面進(jìn)行觀測，表征表面孔隙和微裂縫的開口大小、形狀和分布，雖然對于內(nèi)部連通孔隙網(wǎng)絡(luò)，需要結(jié)合其他技術(shù)。
S neox系統(tǒng)在測量地質(zhì)樣品時，其非接觸、無需導(dǎo)電鍍層的特性非常適用，保持了樣品的原始狀態(tài)。對于表面反射率差異大的多礦物巖石，可能需要選擇合適模式以獲得整體形貌。便攜式設(shè)計(jì)便于在野外現(xiàn)場對大型巖石露頭或珍貴樣品進(jìn)行原位觀測（需解決穩(wěn)定性問題）。
將白光干涉儀獲得的高精度三維形貌數(shù)據(jù)與成分分析（如能譜）結(jié)合，可以更全面地解讀地質(zhì)樣品。因此，雖然作為新興工具，Sensofar S neox白光干涉儀為地質(zhì)學(xué)與礦物學(xué)研究中的表面形貌定量分析，提供了一種高精度、數(shù)字化的新途徑。
4