中圖儀器CEM3000掃描電鏡滿足納米級精密觀測，是一款針對微觀尺度形貌觀測與成分分析的精密儀器，憑借經(jīng)反復打磨的電子光學系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、樣品臺設計，打造出一系列硬核技術(shù)參數(shù)，可滿足納米級高精度觀測、大尺寸樣品分析、多類型材料檢測等專業(yè)需求，是科研與工業(yè)檢測的可靠選擇。

核心技術(shù)參數(shù)與性能亮點

1.核心成像參數(shù)

·電子槍：鎢燈絲，SE模式優(yōu)于4nm分辨率、BSE模式優(yōu)于8nm分辨率（@20kV），加速電壓1~20kV，支持1kV超低電壓低損成像；

·放大倍數(shù)：40~300,000×，可選配大圖拼接，滿足從低倍大視野到高倍納米級的觀測需求；

·探測器：標配二次電子探頭+四象限高分辨背散射電子探頭，選配能譜儀（布魯克/牛津儀器），實現(xiàn)形貌觀測+元素成分分析雙重功能。

2.高效真空系統(tǒng)

·真空度：高真空優(yōu)于9×10-3Pa，低真空5~100Pa（選配），適配導電/不導電等多類型樣品；

·抽氣效率：高真空<180s、低真空<120s，換樣倉破真空<30s、空倉抽真空<100s，大幅減少等待時間，提升檢測效率。

3.大尺寸樣品臺與成像

·樣品臺：X/Y/T自動軸+R/Z手動軸，X/Y行程各50mm，樣品尺寸70mm×70mm（水平）/45mm（高度），比肩立式電鏡，可容納大尺寸/批量樣品；

·成像輸出：640×480至10240×7680多分辨率可選，超低掃描畸變，低倍大視野成像邊緣清晰，動態(tài)傾斜聚焦適配復雜樣品。

4.便捷操作與耐用性

·自動化功能：標配自動合軸、聚焦、消像散、一鍵圖像增強，集成式操縱手柄快速調(diào)節(jié)觀測位置；

·物理參數(shù)：400x670x730mm桌面級尺寸，120kg凈重，200-240VAC常規(guī)電源，復合抗振防磁設計，適應實驗室常規(guī)環(huán)境。

CEM3000掃描電鏡滿足納米級精密觀測，每一項技術(shù)參數(shù)均圍繞實際檢測需求設計，兼顧精度、效率與實用性，如需獲取完整技術(shù)參數(shù)手冊，可聯(lián)系我們領取。

注：產(chǎn)品參數(shù)與服務可能根據(jù)技術(shù)升級實時更新，具體以新標準為準，詳情可咨詢客服獲取完整資料。