從晶圓膜厚到光刻膠臺階，NS系列臺階儀一站式解決微觀形貌測量難題。太陽能電池柵線高度測量|臺階儀報價咨詢客服~

在半導體、微納材料及光電子等高精尖領(lǐng)域，微觀結(jié)構(gòu)的測量精度直接關(guān)乎良率。面對復雜的微米級甚至納米級特征，您需要一款不僅能測得準，還能測得全的設(shè)備。

NS系列臺階儀憑借其強大的通用性，覆蓋以下核心應(yīng)用場景：

1.半導體與微電子：無論是晶圓表面的刻蝕深度、光刻膠層厚度，還是IC封裝中的Bump高度與TSV深度，均能精準捕捉。

2.微納材料研發(fā)：針對石墨烯等二維材料的極薄厚度測量，以及微流控通道的結(jié)構(gòu)表征，提供亞埃級的分辨率支持。

3.光伏與面板：適用于太陽能電池柵線高度及平板顯示器觸控點的微觀輪廓測量，支持大200mm（8英寸）樣品的真空吸附固定，滿足工業(yè)級檢測需求。

硬核技術(shù)指標一覽：

1.亞埃級分辨率：搭載高靈敏度LVDC電容傳感器，在保證大量程（2620μm）的同時，實現(xiàn)了高0.005nm（0.05?）的垂直分辨率，精準捕捉納米級波動。

2.恒定微測力控制：測力范圍0.05mg - 50mg連續(xù)可調(diào)。低測力確保了在測量光刻膠、生物膜等軟性材料時，不會劃傷樣品表面，保證測量的真實性。

3.高重復性：臺階高重復性達到6?（1σ）或0.1%，確保每一次測量數(shù)據(jù)都穩(wěn)定可靠。

4.高清可視化：配備500萬像素高清彩色攝像機與4um的光學分辨率，讓微小區(qū)域的定位與觀察變得清晰直觀。

無論您的樣品是硬質(zhì)的硅片還是軟性的高分子膜，NS系列臺階儀都能助您洞察微觀世界的每一個細節(jié)。太陽能電池柵線高度測量|臺階儀報價咨詢客服~

（注：產(chǎn)品參數(shù)可能根據(jù)技術(shù)升級實時更新，具體以新配置為準，詳情可咨詢客服獲取完整資料。）