中圖儀器SuperViewW系列白光干涉儀批量檢測(cè)晶圓級(jí)微透鏡陣列！可精準(zhǔn)捕捉微透鏡陣列的三維表面高度信息，完成曲率半徑、矢高、面型誤差、表面粗糙度等核心參數(shù)的精準(zhǔn)測(cè)量，即便參數(shù)出現(xiàn)納米級(jí)偏差也能精準(zhǔn)識(shí)別。滿足高精度、大批量的檢測(cè)要求！

從采購(gòu)到運(yùn)維全流程為企業(yè)控成本、提效益，性價(jià)比優(yōu)勢(shì)突出！

1.采購(gòu)成本

該設(shè)備可一站式完成微透鏡陣列的曲率半徑、矢高、面型誤差、表面粗糙度等多參數(shù)檢測(cè)，一臺(tái)替代多款專用檢測(cè)設(shè)備，大幅降低企業(yè)初期設(shè)備投入，且無(wú)任何隱形消費(fèi)，標(biāo)配全套檢測(cè)與數(shù)據(jù)分析功能，無(wú)需額外采購(gòu)模塊。

2.使用成本

· 非接觸式測(cè)量避免損傷微透鏡精密結(jié)構(gòu)，減少器件損耗帶來(lái)的成本浪費(fèi)；

· 自動(dòng)化批量檢測(cè)功能可實(shí)現(xiàn)數(shù)萬(wàn)透鏡單元的無(wú)人值守檢測(cè)，大幅減少人工質(zhì)檢成本，提升檢測(cè)效率的同時(shí)降低人為誤差。

3.運(yùn)維成本

· 設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、核心部件耐用，后期維修保養(yǎng)成本低；

· 可適配光模塊800G、1.6T等技術(shù)升級(jí)后的檢測(cè)需求，無(wú)需頻繁更換設(shè)備，長(zhǎng)期使用性價(jià)比更高，切實(shí)為微光學(xué)制造企業(yè)節(jié)省全生命周期成本。

SuperViewW系列白光干涉儀批量檢測(cè)晶圓級(jí)微透鏡陣列！一臺(tái)設(shè)備覆蓋微光學(xué)制造多類核心應(yīng)用場(chǎng)景，適配企業(yè)從研發(fā)到量產(chǎn)的全流程檢測(cè)需求，是光通信、微光學(xué)器件制造企業(yè)的質(zhì)檢裝備：

1.光通信光模塊微透鏡陣列檢測(cè)，把控核心曲率、面型誤差等參數(shù)，保障光耦合效率與信號(hào)穩(wěn)定性；

2.適配VCSEL光學(xué)耦合透鏡檢測(cè)，精準(zhǔn)測(cè)量納米級(jí)幾何參數(shù)，避免光路偏移問(wèn)題；

3.在消費(fèi)電子領(lǐng)域，可實(shí)現(xiàn)AR/VR微光學(xué)器件的三維形貌檢測(cè)，滿足微光學(xué)元件的高精度質(zhì)控要求；

4.還能針對(duì)晶圓制造環(huán)節(jié)，完成晶圓級(jí)微透鏡陣列的批量檢測(cè)，即便晶圓上有數(shù)萬(wàn)微透鏡單元，也能實(shí)現(xiàn)高效全覆蓋。

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注：產(chǎn)品參數(shù)與配置方案可能因技術(shù)升級(jí)調(diào)整，具體以實(shí)際溝通為準(zhǔn)。