目錄:深圳市中圖儀器股份有限公司>>顯微測量儀>>白光干涉儀>> SuperViewW1白光干涉儀亞納米級無損粗糙度檢測
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
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中圖儀器SuperView W白光干涉儀亞納米級無損粗糙度檢測!這款設備聚焦表面粗糙度測量核心需求,以高性價比為企業(yè)降本采購助力:
1.無任何隱形消費,標配包含3D輪廓儀主機、定制干涉物鏡、集成式操縱桿、品牌計算機等全套測量配置,無需額外采購基礎配件;
2.一臺多用,單一掃描模式即可完成不同材質(zhì)、不同精度要求的表面粗糙度測量,避免企業(yè)為不同場景單獨購置檢測設備,大幅降低初期設備投入成本。
3.設備光源、鏡頭均做了多重防護設計,減少后期損耗與維修成本,且批量采購可享專屬定制化報價,實實在在為企業(yè)節(jié)省采購與運維開支。

白光干涉儀亞納米級無損粗糙度檢測的核心參數(shù)表現(xiàn):
1.粗糙度RMS重復性低至0.005nm,依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標準,可提供300余種2D、3D參數(shù)作為粗糙度評價標準,滿足不同行業(yè)的檢測合規(guī)要求;
2.依托白光干涉技術(shù)與復合型EPSI重建算法,單一掃描模式即可完成各類材質(zhì)的表面粗糙度測量,搭配氣浮式隔振底座與0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲評價功能,有效隔離外界振動干擾,定量檢測環(huán)境噪聲,確保粗糙度測量數(shù)據(jù)的高精度與穩(wěn)定性。
W1型號在0.1nm分辨率下掃描速度達1.85μm/s,W1-Ultra型號更提升至8μm/s,快速掃描的同時保證粗糙度測量數(shù)據(jù)無偏差,且設備可完成粗糙度數(shù)據(jù)的去噪、濾波等處理,支持多格式報表導出,讓粗糙度測量更高效、更專業(yè)。

一臺設備覆蓋多行業(yè)粗糙度測量場景,適配企業(yè)多品類生產(chǎn)的質(zhì)檢要求。立即咨詢!解鎖高性價比測量方案!
注:產(chǎn)品參數(shù)與服務可能根據(jù)技術(shù)升級實時更新,具體以新標準為準,詳情可咨詢客服獲取完整資料。