晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測試和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)及研發(fā)領(lǐng)域。該設(shè)備具有高精度和可重復(fù)性的特點(diǎn)，能夠提供精...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓檢測和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造業(yè)。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak?暗...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓測試和計(jì)量設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體行業(yè)的高精度檢測。該系統(tǒng)采用超紫外（UV）模式匹配技術(shù)和最新一代的...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強(qiáng)大且高效的晶圓測試和計(jì)量設(shè)備，通過其先進(jìn)的檢測技術(shù)、自動化功能和模塊化設(shè)計(jì)，能夠顯著提升半導(dǎo)體制造過程...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進(jìn)的晶圓測試和計(jì)量系統(tǒng)，專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)具有多種功能和特點(diǎn)，使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現(xiàn)...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng)。該系統(tǒng)配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓，并具備自動...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進(jìn)的晶圓和掩模檢測系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。該系統(tǒng)具備多種功能，包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統(tǒng)，具有多種先進(jìn)技術(shù)和高靈敏度成像功能。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：用途：主要用于圖案化晶...
顆粒檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進(jìn)的掩模和晶圓檢測設(shè)備，廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。該系統(tǒng)采用先進(jìn)的...
顆粒檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計(jì)量的系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。該設(shè)備由KLA-Tencor公司生產(chǎn)，具有多種功能和特...
橢圓偏光儀 參考價：面議
RUDOLPH S3000A 橢圓偏光儀是一種高性能的橢圓偏光計(jì)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：波長：該設(shè)備配備532nm的激光源。樣品尺寸：適用...
薄膜厚度測試儀 參考價：面議
Rudolph MP300 薄膜厚度測試儀是一種高性能的晶圓測試和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：類型：晶圓測試和計(jì)量設(shè)備。用途：用于...
薄膜厚度測試儀 參考價：面議
Rudolph MP200薄膜厚度測試儀是一款由Rudolph Technologies制造的薄膜厚度測量設(shè)備型號：Rudolph MP200 。制造商：Rud...
掃描電子顯微鏡 參考價：面議
Applied Materials CX 200 掃描電子顯微鏡設(shè)備概述型號: SEMVision CX 200制造商: Applied Materials應(yīng)用...
臨界尺寸掃描電子顯微鏡 參考價：面議
HITACHI CG 4100是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設(shè)計(jì)用于提供非常小的物體和粒子的詳細(xì)3維圖像。它具有模塊化設(shè)計(jì),允許使用一系列不同的檢測器和級來定...
臨界尺寸掃描電子顯微鏡 參考價：面議
Hitachi CG4000是一款臨界尺寸掃描電子顯微鏡（CD-SEM）.它專為超精細(xì)半導(dǎo)體器件而設(shè)計(jì).以下是一些主要規(guī)格和功能：分辨率：1.8nm（加速電壓：...
臨界尺寸掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日立S-9300是一款高性能的掃描電子顯微鏡(SEM)，用于高精度成像和分析。具體介紹如下：技術(shù)規(guī)格與特性：日立S-9300能實(shí)現(xiàn)高達(dá)1000至300000倍的...
臨界尺寸掃描電子顯微鏡 （CD SEM） 參考價：面議
HITACHI S-9260A是一種先進(jìn)的掃描電子顯微鏡（SEM），設(shè)計(jì)用于各種研究和印刷應(yīng)用的最佳性能。它具有的分辨率，非常適合成像微小的顆粒和結(jié)構(gòu)，如蛋白質(zhì)...
掃描電子顯微鏡 (CD?SEM) 參考價：面議
性能規(guī)格：圖像分辨率：3nm （30A） at 0.8kv 加速電壓加速電壓范圍：0.5kv 至 1.3kv工作距離：固定放大倍率范圍：1 kx 至 300 k...
微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 參考價：面議
N5249B PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，900 Hz/10 MHz 至 8.5 GHz10 MHz 至 8.5 GHz，2 端口和 4 端口，一個或兩個信號源...
微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 參考價：面議
N5247B PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，900 Hz/10 MHz 至 67 GHz2 端口和 4 端口，一個或兩個信號源。
PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 參考價：面議
N5245B PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，900 Hz/10 MHz 至 50 GHz2 端口和 4 端口，多達(dá)三個信號源。
PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 參考價：面議
N5244B PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，900 Hz/10 MHz 至 43.5 GHz2 端口和 4 端口，一個或兩個信號源。N5244B PNA-X 微波...
PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀 參考價：面議
N5242B PNA-X 微波網(wǎng)絡(luò)分析儀，900 Hz/10 MHz 至 26.5 GHz10 MHz 至 26.5 GHz，2 端口和 4 端口，一個或兩個信...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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