X射線衍射儀 參考價(jià)：面議
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光...
高分辨率CT-X射線顯微成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
微納米高分辨率CT-X射線顯微成像系統(tǒng)（3D-XRM，混凝土微觀分析）是布魯克推出的全新納米斷層掃描系統(tǒng)，是顯微 CT 技術(shù)領(lǐng)域的*，在為用戶(hù)帶來(lái)了終級(jí)分辨率的...
束蘊(yùn)儀器微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng)是一種基于X射線的成像技術(shù)，使用微型計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)（Micro Computed Tomography）。包括掃描...
俄歇電子能譜儀|束蘊(yùn)儀器出品 參考價(jià)：面議
PHI公司的PHI 710俄歇電子能譜儀是一臺(tái)設(shè)計(jì)高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級(jí)特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀PHI nano TOF3+，先進(jìn)的多功能TOF-SIMS具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
PDF-5+ 2024 參考價(jià)：100000
PDF-5+ 2024數(shù)據(jù)庫(kù)可以滿(mǎn)足幾乎所有的材料領(lǐng)域的分析需求，無(wú)機(jī)材料如水泥、金屬和合金、電池、礦物和固態(tài)設(shè)備，有機(jī)材料包括藥物、染料、顏料和聚合物，以及其...
PDF-2 2024 參考價(jià)：100000
PDF-2 2024 版數(shù)據(jù)庫(kù)，所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約50多種科學(xué)研究領(lǐng)域，如電池材料、熱電材料、超導(dǎo)材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料、金屬合金、藥物...
臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀|束蘊(yùn)儀器出品 參考價(jià)：面議
臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德...
Bruker布魯克臺(tái)式順磁共振譜儀ESR5000 參考價(jià)：面議
Bruker布魯克臺(tái)式順磁共振譜儀ESR5000是新一代的電子順磁共振波譜儀，結(jié)合了*的電子技術(shù)以及磁場(chǎng)和諧振腔工程應(yīng)用的拓展經(jīng)驗(yàn)，實(shí)現(xiàn)了兩倍以上信噪比的提升，...
工業(yè)部件缺陷高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
工業(yè)部件缺陷高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)SkyScan 1275高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)是一款非常適合于快速測(cè)定樣品的X射線三維成像系統(tǒng)，在不降低圖像質(zhì)量的...
晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀用于常規(guī)質(zhì)量控制、精密材料研發(fā)的單晶和多晶片及晶錠的壽命測(cè)量(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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