光矢量分析儀（OCI-V）是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數(shù)的光矢量分析儀。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數(shù)。該產(chǎn)品采用自有的光路設計以及先進算法，實現(xiàn)智能校準，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。
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武漢東隆科技有限公司 |
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