便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO泰勒霍普森

SURTRONIC DUO 是英國泰勒霍普森 (Taylor Hobson) 推出的便攜式表面粗糙度測量儀，分為經(jīng)典款與升級(jí)款Duo II，采用創(chuàng)新的分體式雙模塊架構(gòu)：顯示 / 控制單元與驅(qū)動(dòng)測量單元物理分離，通過藍(lán)牙實(shí)現(xiàn)無線通訊，可一體操作或分開使用適配難測位置Taylor Hobson。

測量原理：耐磨金剛石測針 + 精密機(jī)動(dòng)導(dǎo)程機(jī)構(gòu) + 高靈敏度壓電傳感器，將表面輪廓機(jī)械位移轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，經(jīng)微處理器按標(biāo)準(zhǔn)算法計(jì)算 Ra、Rz 等參數(shù)，提供可追溯測量結(jié)果與輪廓圖形Taylor Hobson

泰勒霍普森便攜式粗糙度儀