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泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO(現(xiàn)多為 DUO II 版本)是英國泰勒霍普森 (Taylor Hobson) 推出的分體式無線便攜式表面粗糙度測量儀,主打一鍵測量、雙單元分離、高精度便攜三大核心優(yōu)勢,專為現(xiàn)場快速檢測與多場景應(yīng)用設(shè)計,無需復(fù)雜培訓(xùn)即可上手。
核心設(shè)計亮點(diǎn):
創(chuàng)新分體式結(jié)構(gòu):顯示控制單元與驅(qū)動測量單元通過藍(lán)牙無線連接,可組合手持或分離遠(yuǎn)程操作,適配狹小空間與復(fù)雜工件
極簡操作邏輯:單鍵觸發(fā)完整測量流程,約 5 秒完成循環(huán),開機(jī)即用
一體化解決方案:集粗糙度測量、數(shù)據(jù)存儲與分析于一體,支持多參數(shù)同步顯示
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