ELEMENT XR主要特點(diǎn)：

• 線性范圍寬：線性范圍達(dá)12個(gè)數(shù)量級(jí)，不同模式自動(dòng)切換校正；
• 靈敏度高：可使用賽默飛的Jet接口技術(shù)，提供的靈敏度；
• 具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素。

ELEMENT 2主要特點(diǎn)：

具備多元素分析能力

• 多元素檢測(cè)器具備處理瞬態(tài)信號(hào)（包括CE、HPLC、GC、FFF和激光燒蝕）的速度
• 從超痕量到基質(zhì)組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無(wú)干擾測(cè)量
• 與無(wú)機(jī)和有機(jī)固體以及幾乎所有溶液基質(zhì)兼容

全自動(dòng)的常規(guī)分析

• 自動(dòng)調(diào)節(jié)所有參數(shù)，包括透鏡、氣流和炬位，以獲得可重復(fù)而可靠的系統(tǒng)設(shè)置
• 全面、可定制的質(zhì)量控制系統(tǒng)
• 可靠耐用，可作為全年無(wú)休的生產(chǎn)控制工具，樣品通量

具有靈活性和易用性的研究工具

• 擁有權(quán)限進(jìn)入方法開發(fā)的所有儀器參數(shù)
• 具有高質(zhì)量分辨率，可識(shí)別受干擾的同位素光譜： 生成明確的元素光譜
• 無(wú)論是否存在干擾情況，也能獲得高精度的同位素比檢測(cè)
• 熱和冷等離子體狀態(tài)
• 高穩(wěn)定性的同位素比

Thermo Scientific™ Element 2™ 和 Element XR™ 高分辨率 ICP-MS 提供了同類的干擾消除能力，可獲得水平的可靠性。在微量濃度下進(jìn)行超靈敏、可靠的多元素分析，無(wú)需復(fù)雜的樣品制備和方法開發(fā)。

在質(zhì)譜中，當(dāng)干擾離子的質(zhì)荷比 (m/z) 與分析物離子重疊時(shí)，會(huì)發(fā)生光譜干擾。這些干擾是 ICP-MS 的主要限制。幸運(yùn)的是，有一種更好的方法。扇形場(chǎng)質(zhì)譜儀的高質(zhì)量分辨潛力可通過(guò)利用質(zhì)荷比的微小差異，從物理上區(qū)分分析物和干擾物。因此，無(wú)論樣品基質(zhì)如何，高分辨率 (HR) ICP-MS 均可對(duì)幾乎整個(gè)周期表的元素濃度進(jìn)行定量并確定元素的精確同位素比值。

高分辨率 ICP-MS 的簡(jiǎn)單性使其具有極的性能，而不會(huì)影響簡(jiǎn)單可靠的方法開發(fā)。這使得元素系列成為研究和計(jì)量機(jī)構(gòu)以及進(jìn)常規(guī)分析實(shí)驗(yàn)室的平臺(tái)。

Thermo Scientific™ Element 2™ 和 Element XR™ 高分辨率 ICP-MS 系統(tǒng)涵蓋 mg/L 至亞 pg/L 的濃度范圍—尤其適合半導(dǎo)體、環(huán)境監(jiān)測(cè)、核科學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域