本產(chǎn)品采用準(zhǔn)動態(tài)測量法,可同時測量薄膜材料的 seebeck 系數(shù)和電阻率,測溫范圍達到
80K~600K。
硬件特點
動態(tài)法測量 seebeck 系數(shù),避免了靜態(tài)法測量在溫差測量上面的系統(tǒng)誤差,測量更準(zhǔn)確
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采用雙向加熱系統(tǒng),出現(xiàn)測試壞點,可以重新測試
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seebeck 系數(shù)和電阻率測量測量不共用電壓探針,避免出現(xiàn)微型熱電偶斷裂失效的問題
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軟件操作簡單,智能化可實現(xiàn)手動、自動模式
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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