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介質(zhì)材料耐電弧測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
介質(zhì)材料耐電弧測(cè)量?jī)x是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的，并符合JEC ...
耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv 參考價(jià)：面議
耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv：耐電弧測(cè)試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621及ASTM D495...
計(jì)算機(jī)控制、耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv 參考價(jià)：面議
計(jì)算機(jī)控制、耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv：耐電弧測(cè)試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621及AST...
固體絕緣材料耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv 參考價(jià)：面議
固體絕緣材料耐電弧試驗(yàn)儀HCND-20kv：本儀器是在相距6.35mm的兩鎢棒電極上，由間隙到連續(xù)施加12500Ｖ電壓和10～40mA工頻的電弧電流，使試樣表面...
耐電弧試驗(yàn)儀、北京市海淀區(qū)華測(cè)*HCND-20kv 參考價(jià)：面議
耐電弧試驗(yàn)儀、北京市海淀區(qū)華測(cè)*HCND-20kv：耐電弧測(cè)試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621...
PLC系統(tǒng)、耐電弧試驗(yàn)儀 參考價(jià)：面議
PLC系統(tǒng)、耐電弧試驗(yàn)儀：耐電弧測(cè)試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》、IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、...
高壓小電流耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III 參考價(jià)：面議
高壓小電流耐電弧試驗(yàn)儀HCDH-III：本試驗(yàn)儀器符合GB/T 1411-2002 《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn) 》符合IPC650、IEC...
上位機(jī)控制耐電弧試驗(yàn)機(jī)HCDH-III 參考價(jià)：面議
上位機(jī)控制耐電弧試驗(yàn)機(jī)HCDH-III采用計(jì)算機(jī)控制，試驗(yàn)過(guò)程中可在線觀察試驗(yàn)曲線；自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)結(jié)果等數(shù)據(jù)，并可存取、顯示、打印。
電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300 參考價(jià)：面議
復(fù)現(xiàn)性好、電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)...
電弱點(diǎn)測(cè)試儀器 北京華測(cè) 參考價(jià)：面議
北京電弱點(diǎn)測(cè)試儀器-是根據(jù)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料...
電弱點(diǎn)測(cè)試儀華測(cè)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司HCRD 參考價(jià)：面議
電弱點(diǎn)測(cè)試儀華測(cè)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司HCRD-20kv：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外...
電弱點(diǎn)測(cè)試儀器 0－20kV交直流電壓新能源 參考價(jià)：面議
電弱點(diǎn)測(cè)試儀器0－20kV交直流電壓新能源是根據(jù)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于...
固體結(jié)緣材料表面體積電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
固體結(jié)緣材料表面體積電阻率測(cè)試儀、北京華測(cè)直銷(xiāo)：Huace-300型表面、體積電阻率測(cè)定儀符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻...
體積小絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī) 參考價(jià)：面議
體積小絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。測(cè)量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。
數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī) 參考價(jià)：面議
Huace-300型數(shù)顯式絕緣材料表面體積電阻率測(cè)定機(jī)符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》和《絕緣材料的直流電阻或...
防靜電材料體積電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
防靜電材料體積電阻率測(cè)試儀：既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。。測(cè)量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。數(shù)字...
漏電起痕試驗(yàn)儀 耐電痕化指數(shù)（PTI） 參考價(jià)：面議
絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀- HCDH-200是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35m...
控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器 參考價(jià)：面議
控制精密漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指...
電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀 參考價(jià)：面議
電氣絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和...
電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器 參考價(jià)：面議
電工電子漏電起痕試驗(yàn)儀/測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化...
電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器 參考價(jià)：面議
電痕化漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器是根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)...
觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器 參考價(jià)：面議
觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器根據(jù)GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化...
操作簡(jiǎn)單高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器 參考價(jià)：面議
HCDH-200操作簡(jiǎn)單高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度...
控制精密高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器 參考價(jià)：面議
HCDH-200控制精密高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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