ORTEC GWL系列高純鍺（HPGe）井型探測(cè)器是小樣品低水平計(jì)數(shù)的理想解決方案。 的離子注入探測(cè)器井具有超薄死層（僅0.3 μm厚），因此可提供的有用能量范圍（10 keV至10 MeV）。與其他穿透型鍺晶體孔的井型探測(cè)器不同，ORTEC的井型探測(cè)器有一個(gè)“盲孔”，;在孔的底部有至少5 mm的鍺活性區(qū)（右側(cè)圖片）。<這種接近4π的幾何張角提供了的計(jì)數(shù)效率。大井（直徑1.55厘米，長4.0厘米）可容納各種樣本尺寸。與所有ORTEC的HPGe探測(cè)器一樣，HPGe井型探測(cè)器可以存儲(chǔ)或反復(fù)循環(huán)到室溫，而不會(huì)降低性能。

GWL系列功能：

• 接近4π幾何張角；小樣品的計(jì)數(shù)效率高。
• 譜測(cè)量從10 keV到10 MeV。
• 有效體積達(dá)400毫升。
• 的離子注入盲孔。
• 超大井（1.55 x 4.0厘米）標(biāo)準(zhǔn)。