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從2006年G1面世，到如今第七代旗艦PhenomP系列G7正式發(fā)布（PhenomProXG7，PhenomProG7，PhenomPureG7），19年、7代產(chǎn)品迭代、80年技術(shù)積累穩(wěn)定可靠：80年
2025/12/1718
2025ˉ11無(wú)掩膜、無(wú)真空！全新 ALD 納米3D打印系統(tǒng)！
「原子級(jí)制造迎來(lái)范式轉(zhuǎn)變」隨著先進(jìn)電子、光子、量子技術(shù)和航空航天制造的快速發(fā)展，全球制造業(yè)正面臨挑戰(zhàn)：更高的材料精度、更復(fù)雜的器件結(jié)構(gòu)、更高性能與更低能耗的同時(shí)，還需具備更強(qiáng)的材料與設(shè)計(jì)靈活性。然而傳13
2025ˉ10網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)|SEM/TEM離子束制樣新技術(shù)：離子研磨儀，離子精修儀，離子減薄儀
隨著電子顯微技術(shù)的不斷進(jìn)步，如何高效、精確地制備高質(zhì)量的薄片已成為材料科學(xué)和納米技術(shù)領(lǐng)域的重要議題。作為一種常用的薄片制備方法，聚焦離子束（FIB）技術(shù)雖被廣泛應(yīng)用，但在使用過(guò)程中會(huì)涉及到高能離子及G23
2025ˉ9武漢見(jiàn)！復(fù)納科技邀您共赴 2025 年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)
2025年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)于9月26日-30日（26日?qǐng)?bào)到，30日離會(huì)）在武漢市國(guó)際會(huì)議中心召開(kāi)。在砥礪前行卌五秋，探微求真為國(guó)謀之際，我們迎來(lái)了中國(guó)電子顯微鏡學(xué)會(huì)（對(duì)外）成立45周年慶典，本屆8
2025ˉ9新品發(fā)布！掃描電鏡 3000h 燈絲重磅來(lái)襲！ 開(kāi)啟Phenom XL G3 時(shí)代！
新品來(lái)襲！PhenomXLG3掃描電鏡配備3000h燈絲，平均5年更換一次，真正省心省錢(qián)。AI智能、自動(dòng)拼圖、集成能譜，輕松實(shí)現(xiàn)工業(yè)4.0級(jí)檢測(cè)。無(wú)論是科研實(shí)驗(yàn)室還是生產(chǎn)車(chē)間，都能快速穩(wěn)定運(yùn)行。「特點(diǎn)11
2026ˉ3飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠提供優(yōu)質(zhì)的電子光束
飛納臺(tái)式掃描電鏡采用高亮度六硼化鈰(CeB6)電子源，具備快速成像、操作簡(jiǎn)便、維護(hù)成本低等優(yōu)勢(shì)。1.電子束產(chǎn)生：電子槍發(fā)射出高能量的電子束，這是整個(gè)觀察過(guò)程的起點(diǎn)。傳統(tǒng)掃描電鏡多使用鎢燈絲作為電子源，而飛納臺(tái)式掃描電鏡采用高亮度六硼化鈰(CeB6)電子源，這種10
2026ˉ3英偉達(dá)案例分享：電鏡式原子力顯微鏡在半導(dǎo)體分析中的應(yīng)用
半導(dǎo)體是現(xiàn)代電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)，支撐著從計(jì)算到數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的一切功能。隨著器件尺寸縮小且結(jié)構(gòu)日益復(fù)雜，精準(zhǔn)的失效分析變得至關(guān)重要。AFM-in-SEM失效分析該技術(shù)直接集成于FIB/SEM（聚焦離子束/掃描電鏡）環(huán)境，能夠在納米尺度下對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行原位、特定位置的電9
2026ˉ32026 實(shí)驗(yàn)室儀器選型指南:顯微、原位、清潔度、原子制造一站配齊
近年來(lái)，實(shí)驗(yàn)室建設(shè)的重點(diǎn)正在從“補(bǔ)齊設(shè)備”轉(zhuǎn)向“完善能力結(jié)構(gòu)”。二維觀察已難以滿(mǎn)足復(fù)雜材料研究需求；單一表征手段越來(lái)越難解釋多尺度問(wèn)題；單純檢測(cè)能力，也無(wú)法支撐高水平的材料設(shè)計(jì)與工藝優(yōu)化。對(duì)于高?？蒲泻推髽I(yè)研發(fā)部門(mén)而言，儀器選型不僅影響實(shí)驗(yàn)效率，更直接影響研究2
2026ˉ3VDA 19.1 2025 《技術(shù)清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)》新要求之--SEM / EDX 檢測(cè)
在電動(dòng)化與智能化技術(shù)的雙重驅(qū)動(dòng)下，汽車(chē)產(chǎn)業(yè)正迎來(lái)產(chǎn)業(yè)格局的深度重塑，同時(shí)也為傳統(tǒng)零部件的制造、裝配清潔度標(biāo)準(zhǔn)帶來(lái)了新挑戰(zhàn)。在電池系統(tǒng)、電機(jī)組件及輕量化結(jié)構(gòu)件等核心部件領(lǐng)域，產(chǎn)品對(duì)顆粒污染物的容忍度已大幅降低；而智能制造體系中，自動(dòng)化裝配技術(shù)與高精度傳感器的廣泛28
2026ˉ2從顆粒檢測(cè)到材料溯源，清潔度設(shè)備如何科學(xué)選型？
在鋰電、汽車(chē)、鋼鐵與半導(dǎo)體等制造領(lǐng)域，微米級(jí)顆粒與非金屬夾雜物已成為影響可靠性、良率與產(chǎn)品壽命的關(guān)鍵因素。清潔度不再只是檢測(cè)項(xiàng)目，而是企業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力的重要組成部分?？茖W(xué)選型，決定質(zhì)量上限。01.鋰電清潔度管控ParticleXBattery全自動(dòng)鋰電清潔度檢測(cè)26
2026ˉ22026 飛納電鏡選型指南 —— 智能顯微新時(shí)代，讓微觀世界觸手可及！
2026飛納電鏡選型飛納（Phenom）源自FEI，誕生于荷蘭“發(fā)明之城”埃因霍溫，以“任何人都可用的掃描電鏡”理念，現(xiàn)已發(fā)展成為臺(tái)式掃描電鏡領(lǐng)域的品牌。始終致力于讓掃描電鏡測(cè)試更簡(jiǎn)單、更高效，是飛納不變的初心。2026年，飛納電鏡迎來(lái)第七代產(chǎn)品革新，為中國(guó)218
2026ˉ2掃描式電子顯微鏡能夠在納米尺度上清晰呈現(xiàn)出樣品的微觀結(jié)構(gòu)
掃描式電子顯微鏡是一種用于觀察樣品表面微觀結(jié)構(gòu)的精密儀器，憑借其特殊的工作原理和優(yōu)點(diǎn)，在多個(gè)領(lǐng)域中發(fā)揮著重要作用。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，它將在更多領(lǐng)域展現(xiàn)出強(qiáng)大的應(yīng)用潛力。1.分辨率高：SEM的分辨率可達(dá)3nm，介于光學(xué)顯微鏡和透射電子顯微鏡之間，能夠在納米尺度10
2026ˉ2VIDEO CENTER
復(fù)旦大學(xué)化學(xué)系分析測(cè)試中心分別于2015年和2016年先后購(gòu)買(mǎi)飛納電鏡PhenomProX和飛納電鏡PhenomXL，24小時(shí)對(duì)外開(kāi)放使用。給全校師生...
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