光纖端面檢測(cè)成像儀 參考價(jià)：面議
光纖端面檢測(cè)成像儀可測(cè)量光纖尺寸,可測(cè)量直徑達(dá)400μm的光纖幾何結(jié)構(gòu),可對(duì)光纖端面成像,適用于測(cè)量直徑小于等于400μm光纖的玻璃纖維幾何結(jié)構(gòu)。
光纖端面檢測(cè)干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖端面檢測(cè)干涉儀是一種干涉檢測(cè)系統(tǒng),用于檢查切割或拋光光纖的表面質(zhì)量和平整度，廣泛用于科學(xué)實(shí)驗(yàn),光纖生產(chǎn)等領(lǐng)域。
多模光纖散斑抑制器 參考價(jià)：面議
多模光纖散斑抑制器專業(yè)為減少抑制多模光纖散斑而設(shè)計(jì)的光纖振動(dòng)器fiber shaker,非常適合透射光源在多模光纖傳輸中減少散斑的應(yīng)用。
太陽光模擬器測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
太陽光模擬器測(cè)試儀是為產(chǎn)品光穩(wěn)定性測(cè)試設(shè)計(jì)的光譜輻射儀器,可精確測(cè)量樣品平面上的光譜輻照度。
鉆石光對(duì)稱測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
鉆石光對(duì)稱測(cè)量?jī)x有效地測(cè)量光通過切割鉆石時(shí)的質(zhì)量,光對(duì)稱性通過檢驗(yàn)就鉆石切割而言,看到光和感知光的效率成為衡量鉆石質(zhì)量的重要指標(biāo)。光對(duì)稱性可反過來檢驗(yàn)鉆石切割對(duì)...
光致變色透鏡透過率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光致變色透鏡透過率測(cè)試儀提供褪色和AM2條件狀態(tài)下光致變色（光敏）透鏡透射的準(zhǔn)確特征,作為全自動(dòng)光致變色透鏡光度計(jì),光致變色透鏡光譜儀器BPC300能夠按照國(guó)際...
光纖幾何尺寸測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光纖幾何尺寸測(cè)試儀FGC-GS可測(cè)量多模光纖芯徑,包層直徑,纖芯圓度,包層圓度,芯到包層同心度等指標(biāo),可測(cè)量直徑達(dá)1000μm的多模光纖幾何結(jié)構(gòu)參數(shù),可對(duì)光纖端...
光纖特征參數(shù)測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光纖特征參數(shù)測(cè)量?jī)x是一種多功能光纖幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x器,一臺(tái)這樣的儀器可以測(cè)量光纖v型槽塊幾何形狀,芯對(duì)芯間距和芯X、Y偏移量,適合寬度高達(dá)15mm的多光纖陣列,具...
光纖色散測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：100000
這款光纖色散測(cè)量?jī)x是為光纖色散分析應(yīng)用設(shè)計(jì)的光纖色散分析儀器,采用inometrix的Virtual Reference干涉儀技術(shù),可與Agilent/Keys...
850nm/1300nm光纖測(cè)試光源 參考價(jià)：面議
850nm/1300nm光纖測(cè)試光源是為多模光纖損耗測(cè)試設(shè)計(jì)的光纖損耗測(cè)試LED光源,與光功率計(jì)一起用于多模光纖系統(tǒng)損耗測(cè)量,應(yīng)用于需要85/85%有限相空間模...
光纖Encircled Flux測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
MPX-2可實(shí)時(shí)測(cè)量光纖環(huán)形通量EF,只需將光纖信源和跳線連接到光纖Encircled Flux測(cè)量?jī)xMPX上,就能實(shí)時(shí)測(cè)量光纖模態(tài)發(fā)射狀況Modal Laun...
高功率光纖合束器 參考價(jià)：面議
這款高功率光纖合束器combiners是為高功率激光傳輸光纖耦合設(shè)計(jì)的高功率激光光纖合路器,可承受激光功率3000W的高功率激光,可把6路光纖合束為1路光纖輸出
硒化鉛探測(cè)器 參考價(jià)：面議
硒化鉛探測(cè)器采用熱電偶制冷,在1-5μm光譜范圍具有良*的光譜響應(yīng)能力,熱電制冷使用方便，帶有一個(gè)3x3mm有源區(qū),使用專用的215超低噪聲前置放大器模塊在光導(dǎo)...
InGaAs砷化銦鎵探測(cè)器 參考價(jià)：面議
InGaAs砷化銦鎵探測(cè)器，砷化銦鎵光電二極管采用直徑為3mm的InGaAs光電二極管（800-1700nm），以光伏模式工作。該探測(cè)器產(chǎn)生的光電流最好用487...
HgCdTe光電探測(cè)器 參考價(jià)：面議
HgCdTe光電探測(cè)器是低溫冷卻MCT光電二極管和2-12μm碲鎘汞二極管,低溫冷卻碲鎘汞對(duì)長(zhǎng)波紅外具有很高的響應(yīng)性。
真空紫外MCP探測(cè)器 參考價(jià)：面議
真空紫外MCP探測(cè)器采用選通門控MCP微通道板探測(cè)器技術(shù)，常用作X射線成像MCP探測(cè)器,用于X射線成像探測(cè)和真空紫外VUV成像探測(cè),
壓電變形鏡 參考價(jià)：面議
壓電變形鏡采用疊層式壓電致動(dòng)器Stack actuators驅(qū)動(dòng)可變形反射鏡,形成壓電驅(qū)動(dòng)變形鏡系統(tǒng)，采用壓電陶瓷柱（稱為致動(dòng)器）粘在玻璃薄片上制成,玻璃薄片可...
四探針方塊電阻測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
四探針方塊電阻測(cè)量?jī)x是為Sheet Resistivity薄層電阻率測(cè)量設(shè)計(jì)的四點(diǎn)探針電阻測(cè)量?jī)x器,滿足各種材料的薄層電阻率測(cè)量,包括IV族半導(dǎo)體、金屬和化合物...
顯微薄膜測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款顯微薄膜測(cè)量?jī)x是一款多功能薄膜測(cè)厚儀和顯微分光光度計(jì)，可以結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過率,測(cè)量薄膜反射率以及測(cè)量薄膜熒光。這款顯微薄膜測(cè)試儀通過測(cè)...
便攜式里氏硬度計(jì) 參考價(jià)：面議
便攜式里氏硬度計(jì)MH320依據(jù)里氏硬度測(cè)量原理,可以方便快捷地對(duì)多種金屬材料進(jìn)行測(cè)量,即刻顯示硬度測(cè)量值的同時(shí),可在多種硬度制氏（布氏HB,洛氏HRC,維氏HV...
太赫茲探測(cè)器 參考價(jià)：面議
太赫茲探測(cè)器TeraPyro是高性能太赫茲傳感器,高響應(yīng)度（高達(dá)2kV/W）和低NEP 0.1-30 THz的寬光譜范圍,具有可互換的預(yù)對(duì)準(zhǔn)光學(xué)器件和高品質(zhì)太赫...
夏克哈特曼波前傳感器 參考價(jià)：面議
夏克哈特曼波前傳感器通常稱為Shack-Hartman波前傳感器,通過在折射望遠(yuǎn)鏡和數(shù)碼相機(jī)之間放置一個(gè)透鏡陣列制成,然后圖像被傳送到一個(gè)能夠分析波前并測(cè)量其像...
四探針電阻率儀 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率儀是采用四點(diǎn)探針測(cè)量電阻率技術(shù)的四探針電阻率測(cè)試儀。自動(dòng)測(cè)量晶圓電阻率,探針頭方便更換,探針頭由軟件可識(shí)別,探針半徑0.25mm,軟件自動(dòng)計(jì)數(shù),...
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x是六軸電動(dòng)MTF測(cè)試儀器,軟件控制MTF測(cè)試分析,滿足有限/有限對(duì)象/圖像共軛光學(xué)測(cè)量應(yīng)用。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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