本研究創(chuàng)建了一種檢測(cè)和表征 10 nm Au 納米顆粒以及 10 nm與 30 nm 納米顆?；旌衔锏暮?jiǎn)單方法。 該方法將無(wú)氣體模式與 ICP-MS MassHunter 簡(jiǎn)單而功能強(qiáng)大的單顆粒應(yīng)用模塊相結(jié)合，利用了 Agilent 7800 ICP-MS 高靈敏度和易于優(yōu)化的特點(diǎn)。 借助方法向?qū)?，只需輕點(diǎn)幾下鼠標(biāo)即可完成方法開(kāi)發(fā)，之后便能夠自動(dòng)分析短樣品序列。 單顆粒分析的速度非?？欤總€(gè)樣品通常僅需 60 秒。介紹了包括校準(zhǔn)、霧化效率測(cè)定和樣品分析在內(nèi)的整個(gè)序列，用時(shí)少于半小時(shí)。
推薦儀器：二手安捷倫7800 ICP-MS等離子質(zhì)譜儀
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